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电容式电压互感器介损测量异常分析及处理
精品论文 参考文献
电容式电压互感器介损测量异常分析及处理
(揭阳供电局)
摘要:针对电容式电压互感器delta;端子绝缘下降,引线接触不良造成介损测量异常,本文结合现场试验结果和理论分析,找出了其解决办法。
关键词:CVT;介质损耗;测量误差;自激法
1.前言
近年来,电容式电压互感器(以下简称CVT)以其优良的价格及性能比受到电力系统的青睐,并有逐步取代电磁式电压互感器的趋势。由于大部分CVT都是安装在户外,运行三、五年后,其一次接线板周围通常都会生锈以及二次端子受潮,这给现场试验带来很大的干扰。特别是CVT的delta;端子绝缘下降,引线接触不良都会导致在试验中往往其测量值分散性较大,本文就从这两个方面的问题,结合试验实际,并进行理论分析,找出了相应的解决办法。
测量CVT介损采用辅助绕组加压的自激法,试验接线如图2(测Cl、),图3(测C2,)所示。
2.delta;端子绝缘的下降使C1介损异常
2.1 测试异常结果
2013年5月12日,某变电站一条110kV出线CVT预试,其型号为TYD110/-0.01,1996年投运。介损试验原理接线采用图2、图3。测C1绝缘时将XT接地端打开,摇表L端接CVT上端,E端接XT端;测C2绝缘时同样将XT接地端打开,摇表L端接delta;端,E端接XT端。试验结果见表1
表1中C1、C2电容量的测得值可计算出总的电容量为9860pF,与铭牌标称值相比误差仅-0.3%,说明电容量合格。从表1测得的介损和绝缘数据看:上节电容C1介损严重超标,而绝缘却非常高;下节电容C2介损合格,绝缘却很低。根据介质损耗原理:C2在绝缘很低的情况下,其介损应该较大,但实际测试结果并非如此。
2.2 异常结果分析
根据C2的异常结果,首先对其绝缘异常降低进行原因分析与查找,将CVT二次接线板(XT、delta;端子与二次共用一接线板)上的所有引线全部拆开,测得delta;端子对地绝缘为40MOmega;,XT对地绝缘为20MOmega;,几个二次绕组对地绝缘均为20MOmega;左右,由此可判断,CVT二次引出接线板外表面或CVT电磁单元受潮或脏污。通过用干燥棉布对接线板进行擦拭,并用电吹风对其进行表面驱潮处理后,测得所有端子绝缘均在10000MOmega;以上,重新测试delta;端子对XT端子绝缘(C2绝缘)为18000MOmega;,说明C2绝缘大幅降低的原因是delta;端子绝缘下降所致,重新进行介损测试,结果见表2。
从表2知,delta;端子绝缘恢复后,C1的介损也恢复正常,那么C1介损异常升高是否与delta;端子绝缘下降有关呢?下面将详细分析之。
考虑delta;端子对地绝缘电阻Rg影响时,电桥的等效电路见图4。
delta;端子绝缘降低会不会对C2产生影响呢?根据QSl电桥原理:此时Rg与R3并联,R3所承受的电压很低,在Rg大幅降低的情况下通常也有MOmega;级,其值仍远远大于R3,故Rg的影响可以忽略,两次测量结果如此相近证明了分析的正确性,所以delta;端子绝缘降低对C2介损的测量影响很小。
3.引线接触不良对介损试验结果的影响
应该指出,对于一般试品由于其电容CX仅为几百皮法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻RJ的影响,其值omega;CXRJ均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8%),所以omega;CXRJ的影响相对亦小一些。往往不会使实??tandelta;超过规程的规定值。
4.结束语
4.1 我们作为一名高压试验人,做试验的时候就是要认认真真,排除万难,不能因为介损增大了,就怀疑设备有问题,而是应该排除干扰。就像文中所说CVT的delta;端子绝缘下降,应该通过去脏污、驱潮处理后,做出正确的数据,让人家得到信服。
4.2 用自激法测量CVT的介损时,因delta;端子外绝缘的下降可导致上节电容C1介损的异常增大,因而在试验时,应保证delta;端子绝缘良好(2500 MOmega;以上),才能得出准确结果。否则,用公式(5)进行修正也可得到满意的结果。
4.3 同理也可以论证,油浸式的CT及套管的末屏外绝缘受潮了,独有可能引起介质损的增大。
4.2 在测量电容式电压互感器的分压电容器的介损时,一定要认真检查测量线是否接触良好,否则会得到与实际情况相差很大的结果,甚至得到错误的结论,误导现场设备的检修情况。
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