Zn-Al类水滑石结构正电荷对内禀电离平衡常数的影响(论).pdfVIP

物理化学学报(u么zf胁l甜蹦P靓fP施D) May Ac幻P砂5．一C砌竹．S溉，2004，20(5)：459。462 459 ————————————————————————————————————————————————————一 Zn-Al类水滑石结构正电荷对内禀电离平衡常数的影响+ 李丽芳1 侯万国 焦燕妮 刘春霞 (山东大学，胶体与界面化学教育部重点实验室，济南 250100： 1山东农业大学应用化学与材料科学学院。泰安 27lol8) 摘要 采用电势滴定(potentiometric 势滴定数据直接计算得到zn—Al HTlc的内禀电离平衡常数(p艘‘)和质子吸附自由能(△G0d。．。)；研究了结构电荷 密度(矿，)对p艘‘和△G当。．z的影响．结果表明，随矿，增加，p艘‘和△God。，：数值均降低．说明盯，越大，带正电荷 pHPzwc之间符合关系式：p礁吨1．372pHPzwc一3．328． 关键词： 类水滑石， 结构电荷， 内禀电离平衡常数， 电势滴定， 零净电荷点 中图分类号： 0648 固体颗粒与溶液之间发生的界面化学反应在 零可变电荷点pHPzv。，盯，=o时悬浮体的pH值称为 材料科学、催化剂、地球化学过程和环境化学过程 零净电荷点pH删c．不带结构电荷的物质，pH刚。= 中扮演着极其重要的角色，人们提出了多种表面电 离模型以描述固液界面电行为与表面电荷之间的 HTlc内禀电离常数p耿的因素有两个：结构电荷和 关系．迄今为止，对不带结构电荷的氧化物或氢氧 化物的内禀电离常数的研究较多n—s，，其零净电荷 (氢)氧化物的高很多n¨，其p礁‘也会比其它金属 点pH刚c和内禀电离常数p胖之间存在线性正比(氢)氧化物的高很多陷1，因此对含MgHTlcn。81无法 关系临1：p磕‘=o．827pHPzvc+4．478．对带结构电荷区分其p碰值的变化是由结构电荷密度的变化引 的固体颗粒(如带正结构电荷的HTlc和带负结构 起，还是由金属元素含量的变化引起．(氢)氧化锌和 电荷的粘土)的电离常数研究则相对较少n。91．结构 (氢)氧化铝具有相近的pH唧c值n¨，因此两金属氧 电荷对内禀电离常数的影响是一个令人非常感兴 化物和氢氧化物的电离平衡常数p础‘应相近，选择 趣的问题． zn．Al HTlc为模型体系研究结构电荷对p础‘的影响 类水滑石(hydrotalcite．1ikecompounds，简称可排除金属元素的影响；本研究还根据理论推导应 HTlc)是一类带有结构正电荷的物质，其化学组成用直接计算法而非外推法得到了HTlc的内禀电离 常用通式[M(Ⅱ)-一朋(III)。(OH)。】”A阮·聊H20 常数p磊普数值，此类研究目前未见报导． 表示n0。，式中M(II)和M(III)分别为二价和三价金 属离子，A为层间阴离子，x是摩尔质量的HTlc所1 实验部分 带结构电荷数，历是水合水分子的数目．HTlc表面1．1 样品的制备与表征 所带电荷来源于两方面：一是HTlc片层中M(Ⅲ) zn．A1 HTlc采用非稳态共沉淀法合成n引．所用 对M(Ⅱ)的同晶置换所带结构正电荷(又称永久正试剂均为分析纯，水为新制去离子水． 电荷)，用crp表示；二是HTlc颗粒与溶液发生表面 D／MAx 样品晶态及结构参数用融kadu 酸碱反应所产生的吸附质子电荷(也称可变电荷)， 用盯H表示．盯T