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定量沉积在真空器件中的应用
彭毅,姜霞
(汉光电工厂, 湖北孝感432000)
摘要:用定量沉积的方法在陶瓷表面沉积了方阻为O.1Q/square㈣膜,测量了镀
膜厚度对方阻的影响。本文还介绍了定量沉积与其它方法的比较。
关键词:定量沉积;电阻膜;方阻
建设中的中国科技大学同步辐射二期工程是国家重点项目,陶瓷真空室为该工程的
核心部件,总长1000mm,其中瓷件尺寸320×80×25。图l为陶瓷件横截面示意图:
图1陶瓷件横截面示意图
Q
加工中的难点主要反映在:1、电阻膜的获得,其电阻膜要求方电阻在0.06—0.2
/square范围内,且因技术需要瓷件内壁还有图案。2、异型焊接产生的应力。在这里主
要讨论电阻膜的获得。
将钼锰金属化粉末覆盖在需获得电阻膜的陶瓷表面,经过金属化烧结后得到符合要
求的电阻膜,但其电阻膜要求较高而且图案复杂,陶瓷结构又非常规。用常规的金属化
涂覆方法达不到要求,用气相沉积又解决不了图案的问题。然而通过定量沉积来解决电
阻膜的问题就是一种简单、可行的方法。
1电阻膜的获得
称取一定量的金属化粉末,用适量乙酸正丁酯混合搅拌均匀,倒入装有陶瓷件的容
器里,静置,待粉末完全沉淀,取出陶瓷件,干燥,在金属化气氛中烧结,即的得牢固,
均匀的电阻膜。
2原理
假设单位体积的范围内,如图2
图2单位立方体
563
(1)、单位体积内的粉末均匀分布;
(2)、除上下两面,其余四面进出粉末的数量是相等的:
(3)、最后粉末完全沉淀在最底面上:
那么沉淀在陶瓷件上各单位面积的粉末是等量的,控制粉末量即可获得定量的沉积
厚度。设粉末总重m。,粉末真比重p,溶液体积v,容器面积s。,陶瓷件面积S。。则单位
面积的粉末量为:
m2mlS2/VSl
沉淀厚度为:
l=l【In/13(其中k取1.5-2之间)
3效果
3.1 结果分析
经测量同一瓷件表面的厚度基本一致,方阻0.1±5%。随电阻膜厚度的增加,方阻
减少,不同金属粉末,其方阻也不一样。下图为在定量容器内不同厚度下的方阻值。
3.2几种方法的比较
目前获得电阻膜的方法主要是气相沉积工艺,包括物理气相沉积(PVD)和化学气象沉
积(CVD)两大类,其优点是沉积层薄而密实,尺寸精度高,生成的电阻膜电阻可控,缺点是
难于披覆复杂形状的工作表面。定量沉积工艺简单,不需要复杂的设备,成本低,而且
沉积层均匀而牢固,缺点:相应的厚度决定电阻值,需要通过多次试验才能确定;只能
沉积平面的物体,对球面物体无效。
4 其它应用
我们曾用活性金属封接法封接SiC材料,封接时Ti粉与焊料有较为严格要求的重量
比,如手工涂覆极易造成Ti粉的重量波动,而且厚度不够均匀从而导致封接失败。采用
定量沉积法将Ti粉均匀地沉积在被封件表面后进行封接可生成良好的封接件。其它应用
还有很多,今后可以继续探索。
5 结论
定量沉积是一种比较独特的方法,在陶瓷件上可以沉积lI.Lm以上的不同厚度的薄膜,
5“
通过不同厚度的薄膜可获得不同的方阻值,满足了技术要求。
参考文献
9
(1)、钱祥忠.厚度对Q--Si:H薄膜性能的影响.真空电子技术,l95, (1)
99
(2)、高陇桥.非氧化物陶瓷与金属的结合技术.真空电子技术,1 5, (2):1
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