Kvp,mAs Meter操作规程.docVIP

Kvp,mAs Meter操作规程 kVp 测量 通常情况下，使用 820 模型测量 X 射线的 kVp, 只需启动仪器，对准目标光场中心并进行曝光。 为了确保获得更准确的kVp的读数，需要牢记以下几点： 1.电流（mA） 如果 X 射线准确地投射在目标上，802 模型测量操作将有 7mA 的减少值。最精确度为 10 至 50mA。 2.高度 半波 X -射线（大多数适用于牙科）输出在 7 至 15 毫安，锥应高于仪器大概?到 2 英寸。如果 X 射线输出为 25 至 100 mA，X 射线头应高于仪器 8 到 16 英寸。 3.校准 将X射线对准仪器顶部选中目标中心约2”乘2”的范围内校准。 4． 曝光时间 两种模式需要不同的曝光时间。 在正常或“高速模式”，曝光时间必须至少为0.1秒（100毫秒）。 整个kVp测量， 仪器需要略少于100毫秒的曝光时间。为使最大限度地减少头部的磨损和撕裂以及减 少对操作者的射线辐射，曝光时间超过100毫秒是不必要的或者不合时宜???。当仪器 用于测量曝光时间时，较长的曝光时间是必要的。 在“高分辨率模式”下，X 射线曝光时间必须至少为 0.2 秒（200 毫秒）。仪器对于 真个 kVp 的测量，最初需要 200 毫秒曝光时间。为使最大限度地减少头部的磨损和撕 裂以及减少操作者的射线辐射，曝光时间超过 200 毫秒是不必要的或者不合时宜的。 当仪器用于测量曝光时间，较长的曝光时间是必要的。 5. 波形 本机器测量发生在 X 射线曝光的任何部分的最高或加速电压峰值时，最初的 30 毫秒我们用来确保 X 射线波形稳定的一个延迟时间。在 X 射线曝光的休息时间，机器 将显示最高加速电压值的读数。 6. 初步阅读 当机器不在使用时，X 射线探测器积累电荷。最初通电时，仪器会需要一个 X 射线曝光才能正常工作。 忽略最初读数，特别是在高能量的情况下，例如高于 80kVp. 曝光时间测量： 820 模型可以每次测量曝光时间时测量 KVp。曝光后显示的曝光时间，瞬时按动 白色按钮开关。曝光时间将以毫秒（毫秒显示。在正常或高速模式，小于 100 毫秒曝 光时间无法测量。X -射线曝光时间必须至少为 100 毫秒。 如果要测量的曝光时间小 于 100 毫秒，请联系 ECC 购买 8700 模型数据化 X 射线曝光时间仪表。 当机器处在高分辨率模式下，少于 200 毫秒的曝光时间无法测量。X -射线曝光时间必须至少为 200 毫秒。我们建议使用时间测量正常模式进行所有曝光时间的测量。使用 kVp/mA 低值设置可以获得更准确的曝光时间读数。许多高能量的 X 射线曝 光在尾部有一个明显的衰减，这个衰减将被添加到的曝光时间上。所以我们建议是曝 光时间的定在 50 至 80kV 和 25 至 50mA。此外，精准度规格的测量适用于超过 150毫秒的测量。 高分辨率 820 模型被设计来以较短的曝光时间来减少 X 射线头的磨损及对服务人员的辐射做出精确地测量。然而，通过更长时间的 X 射线检测，在三种模式下可以获得更准确 的读数。 低能量-当预期kVp低于60kVp时，可以通过设定X -射线曝光时间为200毫秒（0.2 秒），以及高分辨率的模式下，来提高读数的精准度。 慢速的X射线-有些X射线，特别是老型号需要相对较长的时间来达到峰值曝光。 在正常或高速模式下，X射线测量操作开始前，机器需要等30毫秒。在高分辨率模式 下，等待时间增加了一倍，真实的测量时间也随之增加了一倍。 一些直流和多相仪器虽然反应很快但是有更大的超射。如果超射持续超过 30ms，高分辨率模式下 kVp 真实的最大值将有更准确的读数。 过滤校正 （kVp 测量） 820 机器可用于校准带有 1.5 毫米铝过滤的钨管 X 射线，当 X 射线有不同的过滤 时，请参考下面的表格并作出相应的正确 kVp 读数。 新增过滤 新增过滤值60 kVp 80 kVp100 kVp120 kVp0.5 mm-0.2 -0.51.0 mm-0.4-0.9-1.1-0.6 例如，如果你的 X 射线有 2.5 毫米的铝，那么它相当于 1.0 毫米的新增过滤。大概 60kVp 的读数将有 0.4kV 的高差，所以减掉 0.4kVp 得到正确的读数。 此数值也可更改。例如，当取得一个新增值为 0.5 毫米（2.0 毫米为最高）的70kVp 读数时，使用一个修正系数即-0.2 和-0.5 之间的平均值-0.35，用读数 70kVp 减 去 0.3kVp 或者 0.4kVp 即可。 对于低于 55kVp 的读数，修正系数为最小值，可以忽略不计。 操作 - mA / mAs 测量 1.