光切法形貌测量中光条中心的亚像素提取精选.pdfVIP

第 18 卷 　第 2 期 　 光学 精密工程 Vol . 18 　No . 2 20 10 年 2 月 　 　 　　 　　　　　　　Op tics and Preci sion Engineering 　　　 　　　 　　 Feb . 20 10 ( ) 文章编号 　1004924X 20 10 光切法形貌测量中光条中心的亚像素提取 贾倩倩 ,王伯雄 ,罗秀芝 (清华大学 精密仪器与机械学系 精密测试技术及仪器国家重点实验室 ,北京 100084) 摘要 :为了在光切法三维形貌测量中快速准确提取光条的中心位置 ,保证测量精度 ,研究了一种光条中心的亚像素提取 方法 。将图像的灰度视为关于坐标的二维函数 ,在 CCD 拍摄的激光光条图像中求取灰度的偏导数和梯度 , 图像中每一 点的梯度代表此点的灰度变化方向 ,将此方向简化为光条上的点的法线方向。对梯度的大小设定阈值并结合该点的灰 度信息 ,提取图像灰度变化最激烈的部分 ,即光条饱和带的像素位置 。对光条饱和带的每个像素 ,按照不重复计算的原 则在梯度方向上和规定邻域内求灰度中心 ,得到精确到亚像素级的光条中心位置 。此方法将光条曲线的法线方向简化 为灰度的梯度方向,省去了求海赛矩阵以确定法向的步骤 。实验证明 , 同等条件下 ,该方法的计算耗时为常规亚像素提 ( σ) 取方法的 10 % 。利用该算法进行实际测量 ,在 200 mm ×200 mm 测量范围下 ,误差 3 为 0 . 057 mm ,满足了测量对精 确性和实时性的要求 。 关 　键 　词 : 图像处理 ; 灰度梯度 ; 亚像素中心 中图分类号 : TP39 1. 4 1 　　文献标识码 :A Extraction of central positions of l ight stripe in subpixel in 3D surface measurement based on l ight sectioning method J IA Qianqian , WAN G Boxion g , L U O Xiuzhi ( S t ate Key L aboratory of P recis ion M eas u rem ent Tech nol og y an d I ns t r um ents , D ep a rt m ent of ) P recis ion I ns t r um ents an d M ech anol og y , Ts i ng h ua Uni v ers i ty , B eij i ng 100084 , Chi na Abstract : In or der to ext ract t he cent ral po sition s of a light st rip e and to en sure t he accuracy of surface mea surement ba sed on lightsectioning met ho d , an app roach of t he light st rip e cent ral po sition ext rac tion in subpixel i s inve stigat ed . By t aking t he gray level of an image a s a 2D f unction of