4U60Inner测试报告.docx

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2018-01-28 发布于浙江
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4U60系统IO测试测试环境Dell R720 ：E5 2660 8C/16T*2192G DDR3 RECC400G Intel 750SSD (as L2ARC)4U60 JBOD：60*HGST HUS726040AL5210RAID Z2 (8Data+2Parity)*6Seq Read.4K Rand Read. (QD=1)Seq Write.4K Rand Write. (QD=1)4K Rand Read. (QD=32)4K Rand Write. (QD=32)内部IO指标：顺序读取：不低于5G/s顺序写入：不低于1G/s4K随机读：不低于60,000IOPS （QD=1）140,000（QD=32）4K随机写：不低于16,000IOPS（QD=1）24,000IOPS（QD=32）