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第六章:一些主要的半导体材料 徐桂英 材料学院无机非金属材料系 第六章:一些主要的半导体材料 * 半导体材料的种类虽然繁多,但已经使用和显示出应用前景的材料只是其中的一小部分。 表6.1示出了一些重要的半导体材料及有关的情况,当然,随着各种应用的发展,还会有更多的材料得到应用。 本节的重点是叙述晶体材料,一些薄膜材料将结合其应用加以叙述。 表6.1 一些重要的半导体材料 注:表中的晶片指可直接作器件的切磨片或抛光片;衬底指用于外延的衬底 6.1 硅 硅的化合物在历史上曾对人类的文明起了决定性的作用,硅的英文silicon来自希腊文silex(火石),人类利用它比较方便地取得火。同时各种岩石多是硅酸岩,也是古人类的工具与建筑材料。1924年分离出元素。元素状态的硅的用途在第二次世界大战前主要用作冶金的添加剂,从20世纪50年代开始,硅逐渐成为最重要的半导体材料,这种地位在可预见的将来不会发生明显的变化。 6.1.1 基本性质 Si在元素周期表内属(IV-A)族,原子序数14,原子量28.0855,在自然界无游离状态,主要以氧化物的形态存在。它在地壳的丰度达25.8%。 主要的原子价为4价,其次为2价。在常温下化学性质稳定,不溶于单一的强酸,易溶于碱。在高温下性质活泼,易与各种材料发生反应。 硅在自然界的同位素有3个,它们所占的比例分别为(%):28Si=92.23;29Si=4.67;30Si=3.10。 硅的晶体结构在常压下为金刚石型,其晶格常数为:a=0.543nm;加压至15GPa则变为简单的面心立方结构,晶格常数a=0.6636nm。 硅的力学与热学性质见表6.2 ,半导体性质见表6.3。 表6.2 硅的力学与热学性质 0.7 J/g.K 比热 736 (熔点) mN/m 表面张力 2.6×10-6 K-1 线性膨胀系数 150(300K)/46.84(熔点) W/mK 热导率(固/液) 16 kJ/g 熔化热 6.5/950 摩氏/努氏 硬度 53.6 MPa 临界压力 4886 ℃ 临界温度 2.329/2.533 g/cm3 密度(固/液) 2355 ℃ 沸点 1420 ℃ 熔点 数值 单位 性质 表6.3 硅的半导体性质 11.9 介电常数 2.3×105 W.cm 本征电阻率 1.45×1010 cm-3 本征载流子浓度 5×1022 原子/cm3 原子密度 1500/450 cm2/V.s 迁移率(室温)电子/空穴 1.12 eV 禁带宽度(25℃) 数值 单位 性质 6.1.2 制备工艺 半导体硅包括多晶硅、直拉单晶硅(CZ) 、区熔单晶 硅(FZ)、磁控直拉单晶硅( NCZ)、单晶硅的各种晶片、非晶硅等。 现在80%以上是直拉单晶,大部分以抛光片形式出售,外延片的比例在不断地增长。 这些产品的制法由图6.1所示。 图6.1 半导体硅的原料与产品 硅粉 衬底(玻璃、金属) 硅烷或氯硅烷的合成与提纯 非晶硅沉积 多晶硅制造 非晶硅薄膜 多晶硅 绝缘衬底 外延片 化 学 气 相 外 延 产品 产品 产品 产品 产品 产品 磁控拉晶 区熔法拉晶 直拉法拉晶 磁控直拉单晶 区熔单晶 直拉单晶 磨片过程 切 片 过 程 切片 抛光过程 抛光片 磨片 SiH4 SiCl4 SiHCl3 SiH2Cl2 SiH4 A A 1. 优异的半导体性质。它具有适度的禁带宽度和良好的电子迁移率,这样既可以获得高的电阻率(1×105欧姆.厘米),较高的工作温度(125oC),又有利于制作大功率器件,做到器件的压降不高,可在功率、频率上满足很大范围的要求。 2. 良好的化学性质。它无毒,在地壳中的丰度最大,不存在资源问题,材料本身不会造成公害,生产过程中的三废也较易处理,这就保证了生产的低成本。 在Si本体上容易形成SiO2,且与结合得很牢,这一点是别的半导体材料所没有的。所形成的SiO2在光刻工艺中可起到隔离的作用,也可作为介电薄膜,还能作器件的保护层,这些都可使器件工艺,特别是集成电路(IC)的工艺大为简化。 6.1.3 应用 据统计,现在90%以上的半导体器件是用硅制成的,它的产量在半导体材料中也遥遥领先,多晶硅的年产量已达一万余吨左右。硅在半导体领域中占绝对优势的原因有如下几点。 3. 良好的力学与热学性质。 硅在常温下的硬度及机械强度高,在高温下亦有较高的屈服强度,还具有较高的热导率。这就使得拉制大直径无位错单晶成为可能,在这方面其他半导体材料都望尘莫及。目前直拉法已生产出直径f300mm无位错单晶,区熔法生产出f150mm无位错单晶。 同时良好的力学性能使得Si片在器件加工中能防止引入二次缺陷,而使器件有较高的成品率。 导热性能好,可以提高器件的功率及单位面积上的功率密度,
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