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上海闳康技术检测有限公司SIMS和失效分析 技术讲座通知
静电防护(ESD)设计,可靠性测试及失效分析技术讲座 特大更改通知
敬告: 闳康技术检测(上海)有限公司应客户要求, 将在北京,上海和深圳三地先后分别举办讲座, 本次技术讲座将与上海集成电路设计孵化基地,北京芯愿景软件技术有限公司和深圳集成电路设计产业化基地管理中心共同合作; 其次, 本公司作出让利优惠的特大决定, 在保证讲座主要演讲人员, 内容和质量不变的前提下, 将本次技术讲座以鼓励学术交流为主, 原来培训费将只酌收每人100元人民币, 以支持场地租金和餐饮费, 用以回馈一直支持和关心闳康成长的广大客户!
讲座时间分别更改为:
11月10日 (北京), 11月12日 (上海), 11月14日 (深圳)(各一天)上午9:00-下午17:00。
讲座内容主要包括;
1)先进的集成电路中ESD保护电路的设计
1.1芯片上ESD保护设计基本介绍;
1.2 ESD保护设计的器件和电路;
1.3 整体芯片ESD保护的方案;
1.4集成电路之CDM ESD保护设计;
1.5对于Gb I/O的ESD保护设计;
1.6 ESD的失效分析技术.
2)可靠性分析的基本原理和测试方法
2.1 基本原理与物理;
2.2 测试方法;
2.2.1 取样设计;
2.2.2 可靠性测试项目与条件;
2.2.3 Mil和JEDEC等标准.
3)可靠性测试的应用
3.1在IC中的应用;
3.2在PCB中的应用;
3.3 在焊点凸块中的应用;
4)在TFT-LCD产业中材料分析(MA),失效分析(FA),可靠性分析(RA)和质量分析(QA)的综合应用和全面质量管理 (Total Quality Management, TQM)
5)互动和讨论
宣讲人(一): 谢咏芬博士
台湾 清华大学 材料科学与工程 学士,硕士,博士
ATT Bell 实验室 博士后研究
工研院电子所 次微米计划 DRAM, BICMOS制程整合
联华电子IC材料分析实验室 资深经理
联友光电 TFT-LCD 质量经营部 部经理
友达光电 LCOS 事业处 处长
现任 闳康公司 总经理
专长?:?对IC(Si),TFT-LCD,ITO,LED,LCOS,封装,GaAs,Ge/Metal表面分析等各领域中超过二十年的丰富经验,特别擅长对TEM分析, 失效隔离/失效分析,分析实验室管理,质量管理(QE,QA,QS,TQM)及对与材料有关的基本理论研究
宣讲人(二):柯明道教授
台湾 交通大学 电子工程研究所 博士
台湾 交通大学 电子工程系 正教授
台湾 静电放电防护学会 创会理事长
2006-2007 Distinguished Lecturer in IEEE Circuits and Systems Society
2008- Distinguished Lecturer in IEEE Electron Devices Society
2008 IEEE Fellow (院士)
现任 台湾 义守大学 讲座教授 暨 副校长
专长?:?于在奈米电子、集成电路设计及可靠度、输出入界面电路、静电放电防护电路、平面显示器电路设计等领域超过10年以上的研究经验;于CMOS技术电路与系统的可靠度与质量设计领域在国际期刊及研讨会发表超过 330篇以上的文章。并提出许多改善整合电路的创新研究,目前已累计取得美国134项、台湾141项的专利发明。
宣讲人(三)Prof. Elyse Rosenbaum
美国史丹佛大学电子工程硕士、加州大学柏克莱分校电子工程博士
ATT Bell 实验室研究员
美国伊利诺大学香槟分校 电子与计算机工程系 正教授
资深IEEE Member
Editor of IEEE Transactions on Device and Materials Reliability.
现任 台湾交通大学电子工程系 客座教授
专长?:?相关研究及教学领域为on-chip ESD protection, design of very high speed I/Os, modeling and simulation of ESD protection circuits, design of ESD-Protected RFICs, gate oxide reliability. 并曾于EOS/ESD Symposium, IEEE International Reliability Physics Symposium,以及IEEE RFIC Conference等研讨会议授课演讲。
宣讲人(四): 林建梁 副处长
台湾 中华大学 电机工程学系 1983年毕业
台裕股份有限公司 业务副理?(~6 years)
台湾集成电路股份有限公司 可靠度实验室 副理 (~13 years)?
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