新型偏振干涉成像光谱仪噪声分析与评价精选.pdfVIP

59 8 20 10 8 第 卷第 期 年 月 物 理 学 报 Vol . 59 ，No . 8 ，August ，20 10 1000 -3290 / 20 10 / 59 (08)/5479-08 ACTA PHYSICA SINICA 20 10 Chin . Phys. Soc . 新型偏振干涉成像光谱仪噪声分析与评价*  张淳民 黃伟健 赵葆常 ( ， ， 7 10049 ) 西安交通大学理学院 非平衡物质及量子调控教育部重点实验室 西安 (2009 5 15 ;2009 11 13 ) 年 月 日收到 年 月 日收到修改稿 、 ; 简要论述了自行设计 研制的新型偏振干涉成像光谱仪的基本原理 对该新型偏振干涉成像光谱仪的噪声进 ; ; 、CCD 行了全面分析 给出了与系统通量相关的总噪声理论表达式 提出了结合成像光谱仪系统 图像传感器与光谱 ; ， ， 图像提取噪声的分析方法 辅以信噪比的评价 得知成像光谱仪系统通量虽然对噪声具有巨大贡献 但不会影响系 ; . 统信噪比 为成像光谱仪信噪比的准确计算与降噪方法的有效采用提供了新的理论指导 : ，CCD ， ， 关键词 偏振干涉成像光谱仪 图像传感器 噪声 信噪比 PACC :4230 ，0760 ，4280 Q ，7270 光谱仪每帧图像都能同时获得光谱信息和空间信 . 1. 引 言 息 二维面阵探测器阵列现在最常用的是电荷耦合 器件(charge coupled devices ，CCD)出于对更高分辨 90 ， ， CCD 上世纪 年代以来 随着偏振干涉成像光谱技 率图像输出的追求 人们对 的成像质量提出了 ， 、 、 . 、 术的出现 成像光谱仪朝着小型化 高通量 多通 更高的要求 为了使成像光谱仪达到高分辨率 高 、