静态容量法介孔分析仪技术手册.docVIP

全自动容量法介孔分析仪V-Sorb 2800P-金埃谱 全自动静态容量法介孔分析仪详解 介孔分析仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和介孔检测仪器,采用静态容量法测量原理.众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品. 金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧! 全自动静态容量法介孔分析仪性能参数 测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及介孔分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定 测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(介孔) 测量精度:重复性误差小于1.5% 真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高介孔分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命. 液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差 控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命. 样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理 压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa) 压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％) 分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995 极限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr) 样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等 测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr) 数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强. 数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表. 全自动静态容量法介孔分析仪特点 A.介孔分析仪真空系统 1)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度. 2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换. 3)采用中德合资的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10－2Pa (3x10－4Torr) B.介孔分析仪控制系统 1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便; 2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染. C.介孔分析仪提高测试精度措施 1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度(FS)传感器; 2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％); 3)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差; 4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差; 5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移. D.介孔分析仪数据采集及处理 1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式; 2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强