短波长谐振腔发光二极管外延及性能研究-维普.pdfVIP

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短波长谐振腔发光二极管外延及性能研究-维普

维普资讯 光 电 子 ·激 光 第 16卷 第 11期 2005年 11月 JournalofOptoelectronics·Laser V01.16NO.1l NOV.2005 短波长谐振腔发光二极管外延及性能研究 尉吉勇 。黄柏标 ,秦晓燕 ,张晓阳,张 琦 ,姚书山,朱宝富,李宪林 (山东大学品体所晶体材料 国家重点实验 室。山东 济 南 25Ol00) 摘要 :利用金属有机化学气相沉积 (M()CVD)方法q二长 650nm谐振腔半导体发光二极管 (RCLED),利 用光致发光 (PI)谱和电致发光 (EI)谱研究了其发光特性。由于上 、下布拉格反射镜 的影响,导致其 PI 强度 只有普通 IED的 l/20;EI谱纯度有 I很大提高.半峰宽 (FwHM)由普通 I.ED的 20nm降到 4nm 以下 。最好 的器件测试结果表 明.可 以在 6()nA、2.71V 下 ,实现 1.4 mw 以上发射功率 ,最 窄 FW HM 在 3nm。 关键词 :谐振腔半导体发光二极管(RCIl£I));金属有机化学气相沉积 (MOCVI));光致发光 (PI);电致 发光 (EI) 中图分类号 :TN3l2一.8 文献标 识码 :A 文章编号 :lO)(5-0086(2005)¨一l304—03 EpitaxyandCharacterizationofShortW avelength ResonantCavityLEDs WEIJi-yong ,HUANG Bat—biao,QIN Xiao—yan,ZHANG Xiao—yang,ZHANG Qi, YA()Shu—shan,ZHU Bao—fu.LIXtan—lin (InslilmeofCrystalMaterials.NationalKey1abofCrystalGrowth。ShandongUniversity.Jinan250100. China) Abstract:Resonantoavity lightemittingdiodes(RCLED)of650nm wavelengthwasepitax- iedbymetalorganicchemicalvapordeposition(MOCVD),theemissionpropertyofphoto- Iuminescence(PL)andelectro-Iuminesence(EL)was characterized.The PL intensitv Of ROLED isabout1//20ofcommon LED;theEL spectralpurity isenhanced,EL spectralfull widthofhalfmaximum (FWHM) iSdecreasedfrOm commonLEDS20nm tO RCLEDS3.4 nm.The device characterizatiOn show thatwe can obtainabove 1 45 mW EL emission powerat69mA,2 71V Key words:resonantcavity lightemitting diodes(RCLED); metalorganic chemicalvapor deposition (MOCVD):photoIuminescence(PL);eIectro Iuminescence(EL) ry—Perot(P—Z)谐振腔中,即放置 在 2个 反射镜 问,微 1 引 言

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