X射线荧光在水泥分析中的应用.ppt

吉 昂 JI ANG X射线荧光在水泥分析中的应用 建筑之家 主要内容 1.我国XRF在水泥分析中的应用历史回顾 2.分析对象 3.影响XRF定量分析的因素 4.基体效应及其校正：元素间吸收增强效应、结构(矿物)效应 5.WDXRF和EDXRF LLD比较 5.仪器漂移校正 6.建议 历史回顾 WDXRF 1.李彦成，李乃珍等编，仪器分析在水泥工业中的应用，建筑工业出版社，1981 2.袁汉章，吴自德，丁颂亚，侍启禹，殷国华 分析化学 1986,14(1)40?43 3.刘玉兵 分析实验室 1989,8(1)：21～24 EDXRF 1.王毅民，白友兆等,日本 2.吉 昂，卓尚军，陶光仪.理化检验-化学分册.1999,35(11)：483～485 国产XRF仪器 1、波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF) 国内XRF谱仪的商品化一直是大家关注的问题，早在1959年中国科学院地质研究所曾试制成功第一台单光路的平面晶体X射线荧光光谱仪。从1971年起，上海电子光学研究所等单位先后研制了两种类型多道X射线荧光光谱仪，其一是DXY1～DXY3等三种型号的全真空多光路X射线荧光分析仪；另一种类型是多光路全聚焦式X射线荧光分析仪。西北矿冶研究院研制的BYF-Ⅱ型载流谱仪，该机配有6个通道，可同时测量4个元素，巡回检测16矿浆流。该机用于选矿厂，成功地用于镍矿的精、尾、原矿的品位分析。二十世纪八十年代末至九十年代中期，丹东射线仪器公司与日本理学株式会社合作生产的3070波长色激XRF谱仪。九十年后期建材院研制用于水泥原材料分析的多道X射线荧光光谱仪的样机也已问世。今年己批量生产。 2.能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF) 中国科学院上海应用物理(原子核)所研制生产的探测器和高压电源及包括ACD等核电子器件，丹东生产的多种阳极材料(Cu，Ag，Rh，Cr等)小功率X射线管，中国原子能研究院生产的多种放射性核素源。这些产品为我国能量色散X射线荧光光谱仪商品仪器的生产奠定了物质基础。其中探测器有多种型号的封闭式正比计数管，用于轻元素分析的Be窗厚度为25?m、直径12mm，用于重元素测定的有多种型号，探测器的相对分辨率为15%～16%。Si(Li)半导体探测器，分辨率160eV。各种功率(管压30～60kV，管流为1mA～5mA)高压电源，其稳定性?0.1%。 在上世纪八十年代末期由北京中产电子公司、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂等相继研制了具有体积小、价格低，可同时分析多元素的低分辨率能量色散谱仪。这些仪器适用于中小型企业和现场分析。现在一些企业生产的用Si(Li)半导体探测器、Si-PIN电致冷探测器和封闭式正比计数管等多种型号的EDXRF谱仪。其中用于水泥生料分析的钙铁煤分析仪，年产约500台左右。这几种产品在国内市场占有相当的份额，某些性能方面也已达到国际先进水平，如用于金首饰成分分析。 令人可喜的是李正辉等报导了自行研制的面积为16mm2，厚0.4mm的Hg2I探测器，分辨率为500eV。 3.国产制样设备：压片机、粉碎机、熔样机(高频、电热熔融炉) 分析对象-1 分析对象-2 石灰石中痕量元素的测定(WORLD CEMENT 2003,(3)64-67 影响XRF定量分析的因素 X射线荧光光谱的定量分析是通过将测得的特征X射线荧光谱强度转换为浓度，在转换过程中它受四种因素影响。 1. 待测元素的浓度； 2. 仪器校正因子； 3. 测得的待测元素X-射线荧光强度，经过背景、谱重叠和死时间校正后，获得的纯强度； 4. 基体效应及校正。 何谓基体效应 ？ 1.元素间吸收增强效应：可以用经验或 理论影响系数法和基本参数法进行校正。 2.试样表面结构不同致使X射线荧光强度产生影响，这种影响不能用 理论影响系数法和基本参数法进行校正，在一定条件下用经验系数法校正。 XRF分析水泥常见元素间的相互影响 水泥中经常要分析的元素的吸收限能量和特征X射线能量 SiO2和Al2O3二元体系元素间吸收增强效应 元素间存在吸收增强效应 A、从表1看元素间存在吸收增强效应，Z+1元素均可激发Z元素，现以XRF分析专用系列水泥生料(GSB 08-1110-1999)为对象用MagiX分析结果为例说明问题。 SiO2分析结果 CaO分析结果 结论 以粉末压片法分析GSB 08-1110-1999标样的校正曲线表明：在该标样的浓度范围内，直接用实验校正法制定校正曲线时，其