tjc[工学]核辐射探测 第七章1.pptVIP

为在规定的总测量时间T＝ts+tb内使测量结果的误差最小。由极值条件： 得到： 该条件下的相对方差为： 据此，在相对标准偏差给定的情况下，所需最小测量时间为： * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 2、放射性测量的统计误差 (1). 探测器输出计数的统计分布 脉冲探测器的特点：它的输出脉冲数就反应了t时间内射入探测器的粒子数，也就代表了放射源在t时间内发射出的总粒子数。 由于放射性核衰变具有统计分布，测量过程中射线与物质相互作用过程也具有随机性，因此在某个测量时间内对样品进行测量得到的计数值同样是一个随机变量。 ①、n1为t 时间内放射源发出的粒子数，服从泊松分布 Ω 源发射粒子数n1 射入探测器粒子数n2 探测器输出脉冲数n3 脉冲计数器的测量过程可以概括为三个基本过程，其计数值为一个三级串级型随机变量。 ③、n3为探测器输出脉冲数。遵守泊松分布。 平均值 方差 n3实际上是一个三级的串级型随机变量。 ②、n2为进入探测器表面，即进入立体角Ω的粒子数。 n2仍为遵守泊松分布的随机变量： 放射源在t 时间内发射的粒子数n1 遵守泊松分布，探测器相应的输出脉冲数n3也遵守泊松分布，探测器输出脉冲数的平均值为源发射的平均粒子数与几何因子及探测器效率之积。 如果放射源发射粒子不是各向均匀的，上述结论是否成立？ 仍然成立，只要粒子落在Ω内的概率是不变的——某一常数 几何因子不再是 ，而是 (2). 探测计数的统计误差 粒子计数——探测器输出脉冲数服从统计分布规律，当计数的数学期望值 m较小时，服从泊松分布。 m较大时，服从高斯分布。 而且， m较大时，m与有限次测量的平均值 和任一次测量值 N 相差不大。 表明：对放射性计数的标准偏差只需用一次计数N 或有限次计数的平均值 开方即可得到。 【注意】这种表示的标准偏差仅适用于误差仅仅由统计涨落引起的情况。 样本方差是总体方差的无偏估计，可以由样本方差来估计有限次测量的方差 称为标准偏差 ： 不仅包括统计误差，还反映了其他偶然误差的贡献。可用于数据的检验. 标准偏差? 随计数N增大而增大，因此用相对标准偏差来表示测量值的离散程度： 计数测量结果的表示： 表示一个置信区间，该区间包含真平均值的概率为68.3％（置信度）。 7.3 电离过程的涨落与法诺(Fano) 分布 产生电子—正离子对或电子—空穴对的碰撞都是随机的，因而一定能量的带电粒子形成的离子对数是涨落的，同样是一个随机变量，服从一定的概率分布。 以气体介质为例，实验发现：入射带电粒子每产生一离子对需消耗能量为基本上是一个常数 能量为E0 的入带电粒子把全部能量损耗在气体中后，共产生的离子对数的平均值： 假设能量为E0 的入射带电粒子在气体中总共经历了N（是一个非常大的常数）次与气体原子的碰撞。 是一个伯努利型随机试验 每一次碰撞只可能有两种结果产生或不产生离子对。 已知N次碰撞后产生 个离子对，因而每次碰撞中平均产生的离子对数是 伯努利正事件概率为 N次碰撞产生n个离子对的概率服从二项式分布 且 为一个有限的常数 趋于泊松分布 离子对数涨落的标准偏差及相对标准偏差 由于各次碰撞电离过程是非独立的，产生的离子对数不能简单用泊松分布来描述，而要对泊松分布进行修正，引入 法诺因子F F一般取 (气体)或 0.1~0.15(半导体) 不同材料法诺因子不同， F由实验测定。 把这种分布称为法诺分布。 7.4 粒子束脉冲的总电离电荷量的涨落 1、脉冲型工作方式 通过脉冲探测器对逐个辐射粒子进行探测测得的信号与单个入射粒子相对应，脉冲计数的个数与入射的粒子数对应，单个输出信号的幅度反映入射粒子的能量。 (2). 稳定粒子束流在探测器内产生的平均电离效应。又称电流型工作方式。输出一个直流电流(电压)信号，该信号的大小一般正比于粒子束流的大小。 (1). 粒子束脉冲在探测器内产生的总电离效果，形成一个大脉冲，脉冲幅度与粒子束内粒子数和能量有关。 2、 累计型工作方式 反映一定数量粒子的累计特性。 仅讨论粒子束脉冲的总电离电荷量的涨落 例如在电子直线加速器加速电子打在靶上产生韧致辐射，在持续时间仅为 内包含了大量粒子，这时输出信号反映了这些粒子在探测器内产生的总电离效果。 n1代表一个入射粒子束脉冲中包含的粒子数，是一个服从泊松分布的随机变量。 每个入射带电粒子(或入射γ/X 辐射