SCR-6001测试原理使用手册.pdfVIP

SRC ICT 用户手册 第14章 测试原理 第14章 测试原理 第第1144章章 测测试试原原理理 了解ICT测试原理，有助于编辑调试人员灵活的选择测试方法，快速完成编辑调试过程。 14.1 电阻测量 14.1 电阻测量 1144..11 电电阻阻测测量量 14.1.1 电阻方法0：（分压测量法） 14.1.1 电阻方法0：（分压测量法） 1144..11..11 电电阻阻方方法法00：：（（分分压压测测量量法法）） 如图所示，Zx=Vx*Zs/Vs； 或Zx=Vx*Zs/(Vo-Vx) 两公式中 Zx是待测电阻 Vx是待测电阻的端电压 Zs是信号源标准电阻 Vs是信号源标准电阻的端电压 Vo是信号源驱动电压 针1、2：电阻两端所设置的针号；测量值1：实测电阻值； 测量值2：无。 14.1.2 电阻方法1：（恒压测量法） 14.1.2 电阻方法1：（恒压测量法） 1144..11..22 电电阻阻方方法法11：：（（恒恒压压测测量量法法）） 如右图所示情况：被测电阻与较大的电容并联，Zs的存 在对信号稳定时间不利，而利用闭环反馈原理将Zs含于负反 馈闭环中将消除这一不利影响加快测量速度，但由于电路 采用大回路的闭环反馈，有时会不稳定，产生自激（与外 电路结构有关）。 针1、2：电阻两端所设置的针号；测量值1：实测电阻 值；测量值2：无。 14.1.3 电阻方法2：（四针测量法） 14.1.3 电阻方法2：（四针测量法） 1144..11..33 电电阻阻方方法法22：：（（四四针针测测量量法法）） 对小于10欧的小电阻特设此方法，其测量范围0.1欧~100欧，测量原理如下：由于所有探针接触点都存在接触电 阻，而且在多次重压及不同的被测板间这种接触电阻的变化较大（不同于引线电阻是固定值），新针床约1欧左右， 旧针床可达10欧，如果用直接两针法测量，这种接触电阻的变化将直接影响测量结果，使小电阻的测量变得很不稳 定。 改用四针电桥法测量后（参见上图）针1与针2是信源发出针，针3及G1 针是被测电压返回探针，由于电压采样放大器的输入电阻极高，所以在“返 回探针接触电阻”上的电流及压降很小，能准确测得被测电阻的真实端电压。 被测电 被测电 回路电流的大小虽然与“源接触电阻”大小有关，但在每次测量中，被被测测电电 阻 回路电流 比值 阻 回路电流 比值 阻阻的端电压与回回路路电电流流的比比值值仅与被测电阻值有关。 在针床制作时，我们要求对被测板上小于10欧的电阻每个管脚设双针， 可按上图方式用R2方法进行电桥测量。 注意，测量与返回的探针是配对的，如果针号录入时针3与G1针交换了， 在设备自动学习时，将自动调换针号。 测量值1：小电阻实际测量值；测量值2：无。 82 SRCICT用户手册 14.2 电容测量 14.2 电容测量 1144..22 电电容容测测量量 ~Vs Ro Co 14.2.1 电容方法0：（分压法） 14.2.1 电容方法0：（分压法） 1144..22..11 电电容容方方法法00：：（（分分压压法法）） Rs Cx Vx 如图所示：测量Is与Vx可计算得 2 2 1/2 Cx=|Is|/（|Vx|*Rs）/2πf-Co；或Cx=Rs*（Vs-Vx） / 2πfVx-Co，此方法与电阻分压法相似，不同的是Vs为交流信 号，计算方法较复杂。图中Co是系统分布电容约1nF，显然， Ix 当被测电容较小时（〈1nF）分布电容比被测电容还大，使测试 精度大