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波分测试培训 测试概述 测试用仪表 网元级测试分类 发端OTU指标测试 中心波长、频偏 最大-20dB谱宽 最小边模抑制比 眼图 眼图 消光比 输出抖动 输出抖动 抖动容限 抖动传函 平均发送光功率 平均发送光功率 接收端OUT测试 接收端OUT测试 接收端波长范围 改变输入OUT单板的输入波长，观察输出光谱 DWDM侧发出的光谱符合G.692标准，频偏10GHz 发送光功率满足： EA：-10 ~0dBm 直调：-10~+7dBm部分通道进行环回串联测试 灵敏度、过载光功率 APD管和PIN管区别 PIN管采用定性测试，输入0dBm光功率，无误码 PRBS可选择为223－1 误码率设为10E-12，调整衰减器值即可 也可以采用外推法进行测试 接收机反射系数 接收端的信号光功率与发射端信号光功率比 采用专用的回波损耗测试仪 无源器件测试 无源器件的测试 波长、频偏、谱宽 插损、最大差异 OADM插损测试 隔离度 隔离度定义 光开关切换速度 光放测试 功放板测试 波长范围 增益、增益平坦度 误码测试 WPAWBAD32M32工作在满负荷 部分通道进行环回串联测试 测试要求24小时无误码 每通道光功率调整到最佳值 测试配置 光线路保护测试 对功放板损坏和光纤损坏有保护作用 收端通过关断激光器实现双发选收 倒换时间小于50ms 板间光通道保护测试 单发单收单板 可以保护单板损坏和拔板保护 板内光通道保护测试 自动光功率减少APR功能 调整可调光源的光功率在WBA输入光功率范围内 调节可调光源的波长1510nm~1575nm 测出增益平坦度低于额定指标的最短和最长的波长 ITU-T指标范围为：1535nm ~ 1561nm M32的各路光功率强度一致 调节使功放板的输入光功率在正常范围 使用光谱分析仪测出每波长的增益 增益最大和最小的差就是增益平坦度 1554 1556 1558 1560 1562 -1 -0.5 0 0.5 Relative Gain [dB] Noise gain profile 总输入功率范围 调整可调光源的输出波长为1550nm 调节可调光源输出为功放板最小输入 输入光功率范围等间隔的取4-5点，测量各点增益 得到增益曲线图，能同时满足增益平坦和增益要求 噪声系数 放大板输出信噪比与输入信噪比的比值 调节可调光源输出功率为固定值，波长为1550nm 光谱分析仪测输入和输出的光谱，得噪声系数 变换可调光源的输出功率和波长 最大总输出光功率 可调光源波长1550nm 光模块输入功率范围内，依次增大输入光功率 当EDFA的增益比正常值小3dB时，为最大输出光功率 (32波的最大输出总光功率20dbm 最大总输出光功率 监控信道的测试 系统指标测试 波分系统单向结构模型 系统指标测试 MPI-S/S’、MPI-R/R’点每通路光功率、总光功率、功率平坦度、OSNR 误码率 保护倒换测试 MPI-S,S1点每通路输出光功率 每通路输出光功率指的是每通路光信号经过复用板复用 并放大板放大后每通路的平均发送光功率 MPI-R,R’每通道输入光功率信噪比 每通路输入光功率指的是在参考点MPI－R每通路的 平均输入光功率。 光通道代价 光通道代价=加光通道配置的接收灵敏度－背靠背的接收机灵敏度 注意事项 级联的再生段级数最大为16级 调整仪表和SDH分析仪的光功率范围 * SLM型的激光器主模峰值的中心波长， 10G偏差不大于波长间隔10%，2.5G不大于20% 与标称波长偏差为频偏，≤±0.08nm，即±10GHz 其与频率的关系为C=fλ,发端OUT的波长1560.61nm~1535.82nm，对应的频率为192.1THz~195.2THz 定义为最大峰值功率跌落20dB时的光谱全宽； 收端的波长转换板激光器选用的是MLM型； 10G的OUT指标为0.3nm， 2.5G的EA为0.2nm， 直调为0.5nm 定义为最坏反射条件时，全调制条件下主纵模的平均发送光功率与最显著边模的光功率之比的最小值； 收端的波长转换板激光器选用的是MLM型； EA指标为35dB，直调指标为30dB。 SMSK=10log P主/P边 dB 眼图是表示光信号脉冲形状的特性，定义了上升、下降沿的时间和脉冲宽度 使用TEK8000采用实线配置，用803C按虚线进行配置(803C只能使用外时钟） 10G信号要符合FEC 10.66G模板G.691，2.5G满足G.692 2.5G以下信号要符合G.957模板； 使用TEK8000采用实线配置，用803C按虚线进行配置； 10G信号要符合FEC 10.66G模板G.691； 测试的要求是没有点子落在眼图模板内。 定义为无输入抖动时设备本身在输出口输出的抖动量 测量时间为60S、测量值为峰峰