WI-QCD-002=A0 BL成品检验规范.doc

修订记录 日期 版次 页次 条文 修订内容 变更人 备注 备注：此文件属深圳市宝鸿鑫科技有限公司财产，易不准复印或转变成其它形式使用. 目的 使公司背光标准能统一，特制订此检验规范，。 范围 适用于公司生产的所有背光成品进行检验。 定义 无 权责 IPQC，FQC, OQC:负责检验及品质记录 内容 抽样计划及允收水准 抽样计划及允收標准按C=0 抽样计划依照MIL-STD-105E Ⅱ 单次抽样计划 抽样計劃 允收水准 检验工具及方法 IPQC 主缺0.4，次缺0.65 C=0 直流稳压电源、亮度分析仪、板规、游标卡尺 OQC 主缺0.4，次缺0.65 C=0 游标卡尺、板规、目视 5.1.2成品尺寸测量抽样数为5PCS，允收标准：0收，1退 外观基准 非点灯检查 检查方法：置上背光板于300-500 Lux以上环境亮度中，在距离25cm位置目视检查 不良项目 不良说明 判定 1、资料不符 机种数量、工号与流程单不符者 主缺 2、资料不明 流程单记录（产品型号、单号、数量、作业者、QC签章及其它应记录的内容）不全或错误 装箱记录不全或错误 次缺 3、数量不符 产品数量与装箱记录不相符 主缺 4、资料不全 流程单与装箱记录不齐全 主缺 5、缺流程单 缺流程单 次缺 6、混产品 同一批材料中混有两种（含）以上之型号 主缺 7、外形尺寸不符 产品的外形尺寸、PIN长、PIN距及附属材料符不符合，该型号特性和相关规范的要求，抽样数量：每批5PCS，0收1退 主缺 8、表面不良 （非发光区） 反射盖表面划伤、花纹、污迹等以25mm距离目视能清楚看见而影响使用 主缺 9、REF缺损 REF外形不完整，有缺边、缺角、破损、毛刺、凹陷、凸起而影响使用 次缺 10.外形、尺寸不符 产品的外形尺寸及附属材料等不符合该型号特性和相关规范的要求，抽样数量：每批 5PCS，0收1退 主缺 11.杂物 发光区内： 1. 杂物≥0.20mm, 不可 2. 0.15mm≤杂物≤0.20mm且个数多于2点，距离10mm 主缺 12.掀起 铜箔、基材保护膜不可有有掀起。 主缺 13.变色、生锈 不可以明显的变色及生锈现象发生。 次缺 14毛边 脱模用的Guide的毛边依据限度样本之基准判定，其除的毛边部份规格为0.5mm以下。 主缺 15.变形弯曲 长手方向的变形弯曲容许量±0.3％以内，判定方法参照注（1） 主缺 16.扩散翘起 扩散不可拱起超出导光板正面缺口高度，不影响品质 次缺 不良项目 规格说明 判定 17.PCB翘起 PCB之SMD两端不可有翘起现象 主缺 18.脏污 保护膜、反射片上下两面不可有明显的脏污现象 次缺 19 TAPE漏贴 不可有漏贴、情形 主缺 99其它 上述若有不良项目不在内，请立即知会QE进行修订 注：（1）变形的判定基准 将制品放置于平台上，（如下图所示），在设计为直线的部位，取两端的支点附近最高的测定值，代入下式计算其变形弯曲容许量。 弯曲量 = 点灯检查 检查方法：使用LED点亮治具使背光板点亮，其背光板于10 Lux以下环境亮度中，在距离25Cm位置以目视检查。 不良项目 不良说明 判定 1、缺亮 有任意一处不亮 主缺 2、亮度不均 发光区整体发光亮度有明显的差异，规格参照各机种BOM规定或见限度 样品 主缺 3、色不均 发光区整体发光颜色差异明显，规格参照各机种BOM规定或见限度样品 主缺 4.暗影、白团 发光区内： 任一处暗影、白团以盖客户玻璃25cm远仍可清楚看见为NG， 主缺 5.漏光 成品不可有漏光现象； 主缺 12.脏物、杂物刮伤 点状物（黑点，白点等等） 线状物 1) D＜0.15mm OK 1) W＜0.02 ，L≤3.0 OK 2) 0.15≤D＜0.20mm 2个 2) 0.02≤W＜0.03，L≤3.0 2个 3) D＞0.20mm