新追加HighSpeed测定模式HigghSpeed测测定模式式新追加High.PDF

CIE 170-2对应 分光辐射计 SR series NEW 新追加High Speed 测定模式新追加新追加High Speed 测定模式HHiggghhhhhhhhhhhhh SSSpppppppppppppppppeeeeeeeddddddddddddd 测测测测定模式式式式式式式式式式式式式式式式式 具备有各种亮度范围之亮度计,可对应不同的测定需求 最适合于测定超高亮度LED 半值幅5nm以下对应  分光辐射计 分光辐射计 分光辐射计 0.0005 〜 5,000,000 cd/m 2 0.0005 〜 5,000,000 cd/m 2 10 〜 4,500,000 cd/m2 对应液晶显示器及汽车的内装照明及光源灯等的非接触测定 超低亮度分光辐射计 特注对应品 超低亮度分光辐射计 超低亮度分光辐射计 0.0005 〜 300,000 cd/m 2 0.0005 〜 300,000 cd/m 2 0.001 〜 300,000 cd/m 2 特点 ｜半值幅5nm ｜高精度测定亮度与色度 对应测定波长范围内,测量顏色必要的5nm以下的半值幅 亮度精度：±2%以内；色度精度：dxdy±0.002以内 （JIS Z 8724-1997）。 (※NORMAL SPEED模式时) ※仅 SR-LEDW-5N 对应 ｜最快0.4秒的超高速在线则定机型 ｜直接测定超高亮度LED 由于搭载了LAN，因此能实现最快至0.4秒的超高速测定。 无需使用积分球、扩散板或减光滤片等测定工具，可直接测定超高亮度LED。 ※仅适用于SR-LEDH机型 高重复性光束代替值(亮度)使管理更为简便。在使用1º视野角的情况下， ※测定角2º，积分时间100ms，高速测定模式，连接LAN，并啟动测色模式 可测定4,500,000cd/m²。 ｜搭载FIX模式 (※适用于SR-LED系列) 在连续测定同类样品时使用该模式，测定时间约缩短1.5秒。 ｜减少测定视野的面内MURA (※适用于SR-LEDW、SR-LEDH两款型号) 可将测定视野内的亮度MURA控制在5%以内，色度MURA控制在0.001 以内(测定角1º)，从而可消除光源的设置误差。 ｜可测定光谱 (※适用于SR-LEDW) 可测定380～780nm 光谱(以 1nm 為1区间) 。 ｜高精度测定闪烁光源 SR-NIR可以高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。 •同步测定功能