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材料研究方法作业习题
作业习题
一、主要参考书
1.王富耻. 材料现代分析测试方法[M],北京理工大学出版社,2006.
2.高家武等. 高分子材料近代测试技术[M],北京航空航天大学出版社,1998.
二、学习指导
阅读作业:
参考书1:材料现代分析测试方法
第七章(266-288页)
第六章(248-259页)
第九章(334-337页)
参考书2:高分子材料近代测试技术
第三章(85-125页)
总体学习目标:
1.定性理解差热分析(DTA)、差示扫描量热法(DSC)、热重法(TG)和动态力学热分析(DMTA)
等热分析技术的基本原理及影响因素;
2. 掌握热分析曲线解析方法和热分析技术在材料研究领域中的具体应用;
3.定性地理解在红外光谱(IR)中分子结构对吸收峰位置的影响;
4.学会利用解析红外光谱图谱并辨别未知物分子结构中的官能团;
5.定性地理解核磁共振(NMR)的物理原理及影响化学位移和自旋-自旋裂分的因素;
1
6.学会解析核磁共振氢谱( H-NMR),并学习综合利用IR 和NMR 等分析推断有机分子和
聚合物的结构。
三、思考题节选
X射线衍射
解释名词:1.特征X射线 2.相干散射 3.倒易矢量 4.倒易球 5.光电效应 6.
吸收限 7.俄歇效应
8.X射线的激发电压 9.X射线的工作电压 10.非相干散射 11.晶带 12.晶带定
律 13.倒易点阵
简答题
1. X射线产生的条件是什么?
2. 空间点阵与晶体结构是什么关系?
3. 干涉指数与晶面指数是什么关系?
4. X射线在晶体中产生衍射的极限条件是什么?
5. 倒易矢量的基本性质?
6. X射线分析中工作电压如何选择?
7. X射线衍射仪中测角仪其什么作用?
8. 写出X射线定性物相分析的程序?
9. X射线衍射仪有什么用途?
10. 什么是厄瓦尔德作图法?
11. 正点阵中,同一晶带的面在倒易空间中与什么相对应?
12. 四种类型点阵的系统消光规律?
13. 用厄瓦尔德图法解释劳厄法的成像原理和劳厄斑点的分布规律?
14. 什么是X射线粉末法衍射花样指数化方法?
15. 什么是X射线谱中,波长最短的短波限对应的X射线光子能量应是最大,但
为什么最大强度出现在中央、
16. 说明标识X射线谱产生的机理。
。 。 。
17. 用CuK X射线摄得某物质的10条衍射峰,其θ角为21.89,25.55 ,37.59,
α
。 。 。 。 。 。
45.66 , 48.37,59.46 , 69.64,74.05 , 74.61 ,求其晶体结构、标定指
数和晶格常数。
透射电镜
1.透射电子显微镜电子光学系统由哪几部分构成,各组成部分的主要功能有哪
些?
2.透射电镜像差有哪些?产生的原因和影响因素是什么?
3.什么是微栅膜?如果有一平均粒度为20nm且分散性很好的纳米材料,如何选
择载网支撑膜并制备合格的透射电镜样品?
4.衍射谱形成过程的物理本质是什么?如何利用布拉格公式或厄瓦尔德作图法
来理解衍射谱的形成过程?
5、什么是倒易点阵?试说明倒易点阵与电子衍射谱之间的关系。
。
6.如图所示为某晶体的衍射谱,其中r1=r2,φ=60。试分别按体心立方、面心
立方、密排六方结构标定各斑点指数并确定晶带轴。
7.什么是衬度?透射电镜显微图像中有哪几种可能的衬度,产生的原因是什么?
8.衍衬运动学理论和动力学理论有什么联系和区别?试利用这两种理论分别解
释等倾消光条纹的特点。
9、什么是双光束条件?如何获得中心明场像和中心暗场像?
10.缺陷衬度的来源是什么?如何通过透射电镜确定缺陷的位移矢量?
11.如果图4-66中所有位错均为全位错,根据此图是否可以确定位错A、B、D
和E的柏格斯矢量?
12.什么是相位衬度和Scherzer欠焦条件?晶格条纹像与结构像有什么区别?
扫描电子显微镜和电子探针分析
1.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?
2.试比较透射电镜和扫描电镜的结构原理和成像特点。
3.扫描电镜的分辨率受哪些因素影响?所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号
成像时的分辨率?
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