BRUKERDPHASER型X射线衍射仪-Sunlord.PDF

深圳顺络电子股份有限公司 BRUKERD2-PHASER X BRUKERD2-PHASER X BBRRUUKKEERRDD22--PPHHAASSEERR型 XX射线衍射仪 X 射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析工具，是物质结构表征，以 性能为导向研制与开发新材料， 宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。可广泛 应用于半导体和超导、医药、化学与涂层、聚合物、纤维和催化剂、刑事鉴证、环境、地质矿物、金属冶金、 陶瓷和新材料（纳米材料、无机非金属、有机高分子、复合材料等）等领域。 Theta/Theta测角仪 范围 2.5°~160°, 精度±0.02° EVA TOPAS 光源 CuKα, 和 软件 定性半定量 峰宽检出限0.05°, 结构分析 峰强准确度±2% 仪器参数 闪烁体计数器、能量色 / 散 一维线性检测器 标准陶瓷 X光管 单色, 器:Kβ滤波器、ROI (XFlash) 标准旋转型样品台, 块状样品: 直径25mm, 厚度2.5mm Rev.A2014 联系人:周相国 TEL: (86)159-8678-5590,(0755 深圳顺络电子股份有限公司 适用于粉末、块状样品 多重物相混合均匀 平整的样品表面 粉末样品足够细（200目） 对于 X-光吸收系数很低的材料尽可能薄 峰位 面间距→点阵参数,空间群 面间距漂移 → 残余应力,固溶体分析 峰形 结晶性 强度 微晶尺寸 非晶质结晶度 晶格点阵 定量相分析 晶体结构 强 度 2θ 2θ 角度（22θθ）