实验一：084413124-高振.docVIP

实验一 集成电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、掌握Multisim软件的使用方法。 2、掌握集成逻辑门的逻辑功能。 3、掌握集成与非门的测试方法。 二、实验原理 TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。 54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54 系列和74 系列的区别那样。在不同系列的TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。 TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL 电路比较合适。因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥2.4V，低电平为“0”时≤0.4V。 它们的逻辑表达式分别为： 图1.1 分别是本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。 图1.1 TTL 基本逻辑门电路 与门的逻辑功能为“有0 则0，全1 则1”；或门的逻辑功能为“有1则1，全0 则0”；非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有0 则1，全1 则0”；或非门的逻辑功能为“有1 则0，全0 则1”；异或门的逻辑功能为“不同则1，相同则0”。 三、实验设备 1、硬件：计算机 2、软件：Multisim 四、实验内容及实验步骤 1、基本集成门逻辑电路测试 （1）测试逻辑功能74LS08是四2输入端与门 A B Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 （2）测试逻辑功能74LS32是四2输入端门 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 （3）测试逻辑功能74HC04是6个单输入非门 A Y 0 1 1 0 （4）测试逻辑功能74LS00是四2输入端门 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 （5）测试逻辑功能74LS02是四2输入端门 A B Y 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 （6）测试逻辑功能74LS86是四2输入端门 A B Y 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 （7）测试逻辑功能74LS266是四2输入端门将74LS0将74LS0将74LS0 或非门实现的非门