SPC讲解_半导体公司详解.ppt

Ppk 实际能力指数 现在假设25组数据的每个子组的X都一样；则： σbetween=0 此时： 这时求出的值是CPK 如果想提高CPK，有哪些办法？ 尽量靠近规格限的中心限。 尽量降低子组内的Sigma。 如果想提高PPK，有哪些办法？ 尽量靠近规格限的中心限。 尽量降低子组内的σwithin。 尽量降低子组间的σbetween。 Pp 实际最佳能力指数 Cp和Cpk的区别在于：数据的平均值是否与规格限的中心值相等。 Pp和Ppk的区别在于：数据的平均值是否与规格限的中心值相等。 Cp：潜在最佳能力指数 Pp：实际最佳能力指数 Cpk：潜在当前能力指数 Ppk：实际当前能力指数 常识： 1. Cp、Pp、Cpk、Ppk 数值大小排序 CpPpCpkPpk I-MR图做控制图，计算的Cpk不准确。一般工艺控制不用I-MR。 一般数据的均值与规格限的中心值偏离1.5σ，此时Cpk=Cp-0.5 。 64%-76% 12%-18% 12%-18% 使用DOE前后比较 不合格品数控制图（nP图） 不合格品率控制图（P图） Cp Cpk Pp Ppk USL UCL LCL CL LSL USL UCL LCL CL LSL 1）Cp、Cpk 客户的声音 流程的声音 流程能力= Cp:潜在最佳能力指数 假定控制限的平均值与规格限的平均值（中心线）相等 σ=1 USL=10 LSL=4 4 7 10 LSL USL Cpk：潜在能力指数 实际上，控制线的平均值≠规格限的平均值(中心线) 4 7 10 USL LSL 8.5 σ=1 USL=10 LSL=4 X=8.5 研究Ppk与Cpk: 子组（subgroup） 人：A、B 材料：a、b 刀具：甲、乙 组合后：Aa甲、Ab乙、Ba甲、Bb乙…… 采取数据时，至少有70%的组合。 σ1 σ2 σ3 σ4 σtotal σwithin：子组内的σ的平方和 σbetween：子组间（X）的σ σtotal：所有数据总的σ X1 X3 X2 X4 X 子组 原始数据X（每行5个数据组成一批数据） 　 σ R 1 10.7 13.3 13.8 12.5 9.5 11.96 1.81 2.5 2 10.3 7.6 8.6 11.3 9.5 9.46 1.44 1.8 3 8.4 12.7 8.9 12.4 13.9 11.26 2.45 0.42 4 13.4 14.9 9.9 8.5 11.7 11.68 2.58 2 5 10.3 9.1 8.6 9.9 10.5 9.68 0.81 0.18 6 9.2 11.7 12 8.1 8.3 9.86 1.87 1.8 7 13.3 10.5 11.9 10.3 12.3 11.66 1.26 0.72 8 9 13 10.6 10.9 11.2 10.94 1.43 1.76 9 8.4 11.6 7.8 9.4 8.7 9.18 1.47 0.86 10 11.6 12.9 9.9 8.1 7.7 10.04 2.23 0.98 11 12 10.9 10.5 9.7 12 11.02 0.99 0.84 12 11.8 13.9 11 11.1 11.5 11.86 1.18 1.26 13 11.3 12.3 8.7 9.8 10.9 10.6 1.39 0.76 14 12.4 10.1 10.5 13.3 10.5 11.36 1.41 0.7 15 10.1 10.1 9.8 13.5 9.8 10.66 1.59 0.44 16 9.6 12.4 7.3 9.4 12.4 10.22 2.18 0.34 17 9.2 12.6 9.5 9.1 12.4 10.56 1.78 0.58 18 12.1 12.2 10.6 10.7 10.1 11.14 0.95 1.16 19 10.8 9.8 10 10.1 9.2 9.98 0.58 1.68 20 10.4 8.7 13.2 12.9 13.1 11.66 2.02 0.82 21 11.6 11.5 9.3 10.3 11.5 10.84 1.01 0.02 22 10 10.1 10.9 11.9 11.4 10.86 0.82 0.2 23 8.8 13 12.9 9.5 9.1 10.66 2.11 1.58 24 12.2 12.5 12.6 11.7 12.2 12.24 0.35 2.32 25