统计技术习题.docVIP

单选题： 一、统计技术与统计图 ！！！选项为它们的定义：a.直方图；b.散布图；c. 趋势图；d. spc图 直方图中, 其宽度表示数据间隔范围，高度表示在此范围内数据出现的频数，高低不同的变化形态描述了数据的分布情况。 关注定义：题1007，1201以及以下汇总。 描述性统计：是指以揭示数据分布特性的方式汇总并表达定量数据的方法。(它适用于能够收集到定量数据的所有领域) 过程能力：是指受控状态下过程在加工质量方面的能力。（σ愈小，过程愈稳定。） 过程能力分析：是检查过程的固有变异和分布，从而估计其产生符合规范所允许变差范围的输出的能力。 过程能力分析用来评价过程连续产生符合规范的输出的能力，并估计预期的不合格产品的数量。 SPC图: 或称“控制图”,是将从过程定期收集的样本所获得的数据按照顺序点绘而成的图。 抽样：是通过研究总体中的样本获得有关总体的某些特性的一种系统的统计方法。 抽样检验：是利用所抽取的样本对产品或过程进行的检验。（抽样检验的对象是一批产品而非每个产品。） 假设检验：是指在规定的风险水平上，确定一组数据（一般来自某个样本的数据）是否符合已给定假设的一种统计方法。 AQL：是指当一个连续系列批被提交抽样验收时，可允许的最低过程平均质量水平。 见1007题。两个变量或数据间的关系分为相关与不相关，其中相关又细分为：强正相关，弱正相关，强负相关，弱负相关和曲线相关。 二、过程能力 正态分布记作：(u, σ2)，统计量的u，σ通常未知，故需用估计值代替，见下1087题；过程能力中，均值范围：u ± 3σ，见下题1153。 此题答案错误，应为a. b.为 ，也即是样本的平均值，计算中可近似用 代替u；c.为σ, s为σ的估计值,常用s代替σ计算，s为样本标准差，；d.为R：样品中最大值与最小值之差。 1137题错误：应为C。见上题。 1176此题错误，应为d Cp= T/(6σ) Cpk=（1-K）T/（6σ）=（1-K）Cp 其中偏移度K≥0，故Cpk≤Cp 三、抽样 类似于计数型控制图的分类：计件型和计点型，针对的是样本中的不合格品数或不合格数。见多选题3017。 不合格指缺陷数；a. d.指不合格品数。 接收质量限（AQL）是计数调整型抽样检验GB2828抽样方案的质量指标,是指当一个连续系列批被提交验收抽样时，可允许的最低过程平均质量水平。 控制对象只有合格与不合格品，则指的是计件控制图，此题的答案应为bc；u控制图指的是单位产品上的缺陷数（不合格数），为计点控制图，此题并未涉及。 常规控制图主要有两类：一类是计量控制图；另一类是计数控制图。 计量控制图的统计基础是正态分布N（μ ，σ2），它含有两个参数：均值μ，与标准差σ。计量控制图共4对，它们是①均值—极差控制图; ②均值—标准差控制图; ③中位数—极差控制图; ④单值—移动极差控制图 计数控制图，根据背景不同，可以分为两类：计件控制图与计点控制图。①计件控制图的统计基础是二项分布b（n，p）, p是不合格品率。根据使用时的样本是否相同，有两类，它们是: A.不合格品率控制图（p图）; B.不合格品数控制图（np图）； ②计点控制图的统计基础是泊松分布P（λ），它只含有一个参数λ，λ是单位产品上的不合格数，也分为两类：A. 单位产品不合格数控制图（u图）; B.不合格数控制图（c图） 答案为: a. c. d. e. 数据 分布 控制图 简记 计量值 正态分布 均值-极差控制图 均值-标准差控制图 中位数-极差控制图 单值-移动极差控制图 计数值-计件值 二项分布 不合格品率控制图 不合格品数控制图 P图 np图 计数值-计点值 泊松分布 单位产品不合格数控制图 不合格数控制图 u图 c图 a.中，当控制图的控制对象为不合格品率时，过程处于稳定状态指任何单位产品不合格的概率为一常数p，且所生产的各个单位产品都是独立的。故a对。 b.中，p图的统计基础为二项分布。故b 错。 d.kh ,当各组样本的大小不等时，此时控制界限成凹凸状。 见上题3017。 答案：a, b, c, d 任何统计抽样检验都有一定的风险，即使是100%检验（对批产品中的所有个体或材料进行检验）也不能完全避免。抽样检验的对象是一批产品而非每个产品，经过抽样检验判为合格的批，不等于批中每个产品都合格；经过抽样检验判为不合格的批，不等于全部产品都不合格。故a对；b也对，见后3072。 ——抽样检验：按照规定的抽样方案，随机地从一批或一个过程中抽取部分个体或材料进行的检验；与之相对的是全检或100%检验，一般来说，抽检比全检经济。 ——破坏性检验，如产品的可靠性试验、产品寿命试验、材料的疲劳试验、零件的强度检验等。对于破坏性检查的产品，则抽样检验是