配备UHMI的Agilent7900ICP-MS的高盐基质分析性能.PDFVIP

配备 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 的 高盐基质分析性能 应用简报 环境、食品、化工 作者 Wim Proper1 、Ed McCurdy2 和 Junichi Takahashi3 1 Eurofins Analytico 公司，荷兰 2 安捷伦科技公司，英国 3 安捷伦科技公司，日本 前言 自二十世纪八十年代第一代商用 问世以来，就广泛应用于众多行业和应 ICP-MS 用进行痕量元素分析。然而，在测定环境、临床、食品、核以及地质等典型应 用中的高基质样品时，仍然面临诸多挑战。如果使用 ICP-MS 直接分析总溶解态 固体 (TDS) 含量高的样品，基质可能会沉积到采样锥和截取锥孔，导致信号逐 渐降低。另外，在分析此类样品时，基质组分也可能会显著抑制（或者偶尔也 可能增强）分析物信号 [1] 。感兴趣的高基质环境样品包括海洋生物、沉积物、 地下水、开放海域以及沿海海水 。含盐量远高于海水的内湖和咸水湖（即高 [2] 盐度湖泊）也是需要关注的对象，这些水体包括南极洲的 电离抑制也会影响分析物信号，因为等离子体中存在的高 唐胡安池和万达湖、吉布提的阿萨勒湖、土库曼斯坦的卡 浓度易电离（第一电离能 (IP) 低）原子会导致过量的自由 拉博加兹戈尔湾、位于以色列和约旦之间的死海以及美国的 电子，从而抑制其他元素，尤其是常测的 、 、 和 As Se Cd 莫诺湖和大盐湖。这些水体的盐度可能是海水的很多倍（唐 Hg 等痕量元素的电离。除了电离抑制外，提取离子束中高 胡安池的盐度 ，最高可比海水高 倍）。 浓度的基质元素还会使其他离子散焦，引发的空间电荷效 40% 12 使用 ICP-MS 测定高基质样品时，基质元素会以多种独特 应会使得信号大大降低 [3] 。 方式影响分析物信号。其中最公认的是信号会逐渐降低， 最后， 、 、 和 等常量元素会在质谱中生成多原 Na Ca Cl S 这主要是由于长时间测定高基质样品时基质沉积在 子离子，干扰痕量水平的 、 、 、 、 、 、 ICP-MS Ti V Cr Ni Cu Zn As 接口部件（采样锥和截取锥）而引起的。一般公认传统 以及其他元素的测定。因此，人们通常使用 ICP-OES 来分 ICP-MS 仪器直接测定所能耐受的最大总溶解态固体 (TDS) 析高盐水样 [4,5] ，但是 ICP-OES 的最低报告限比 ICP-MS 极限为 （ 或 ），而此类信号漂移正是 的报告限高得多。避免光谱干扰的另一个方法是使用在线螯 0.2% 2000 ppm 2 g/L 设定该限值的最主要原因。许多 标准方法中定义 合 、固相萃取 或共沉淀 等基质去除技术。 ICP-MS [6-8]