OL的ED的失效分析.ppt

通过实验讨论，本文得到如下结论: 1. 通过对OLED发光面积退化规律的研究，发现水汽和氧气对器件面积退化速率有很大的影响。在有水汽的情况下，通电会导致水分解产生气体将阴极金属层顶起，同时为局部过热导致的熔融态有机物流动提供了空间。未通电区域则可能发生有机物的结晶，也会影响器件发光性能。氧气则会氧化阴极材料和有机层，导致不发光区域的产生。 2. NK多功能薄膜分析仪为OLED的失效分析提供了一种新的方法，能快速无损地从器件结构和材料性质的角度对器件进行失效分析，测量膜的均匀性等。该方法还可应用于大规模的生产检测。对结构为ITO/NPB/Alq3/LiF的器件，其失效主要是Alq3层和LIF层发生变化。 3. 通过对镀Cr的ITO电极引线腐蚀产物的分析发现，腐蚀是由电极引线的结构特点引起的，腐蚀过程中Cr在不同电位下反应生成Cr(OH)3或CrO3。Cr镀层溶解后，ITO随后发生腐蚀;氯离子对ITO的腐蚀有促进作用。 [1]PoPe M，Kallmann H Magnante P. Electroluminescence in Organic Crystals [Jl. JChem.Phys.1963，38:2042一2043. [2] Halfwit，Sehneider WG，Reeombination Radiation in Anthracene Crystals{Jl· Phys.Rev.Lett.1965，14:229一231. [3] Dresner J，Double Injection Electroluminescence in Anthracene [Jl.RCA.Rev. 1969，30:322. [4] Williams D F，Sehadt M，A simple organic electroluminescent diode[J]·proc· IEEE.Lett.1970，58:476. [5] Vineett P S，Barlow W A, Hann R A,Roberts G. G, Electrical conduction and low voltage blue electroluminescence in vaeuum-deposited organice films [J].Thin Solid Films，1982，94:171一183. [6]彭雅芳,俞宏坤.OLED失效分析技术研究.[M].复旦大学.复旦大学.2008.18---54. [7] Tang C W，Vanslyke S A organic electroluminescent diodes [J]. APPI. Phys.Lett.1987,51:913一915. [8] Burroughes J H,Bradley D D C,Brown A R,Mark R N,Markay K Friend R H,BrunsPL，HolmesAB，Light-emitting diodes based on conjugated Polymers [J]. Nature1990，347:539一541. [9] Gustafsson G,Cao Y,Treaey G M, Klavetter F,Colaneri N,Heeger A J,Flexible Light-emitting Diodes Made from Soluble Conducting Polymers.[J].Nature1992, 357:477一479. [10] Cao Y, Treaey G M, Smith P, Heeger A J,Solution-cast Films of Polyaniline: Optical-quality Transparent Eleetrodes [J].APPI.Phys.Lett.1992,60:2711一2719. [11] Baldo M A. O’Brien D F.YouY, Shoustikov A, Sibley S, Thompson M E,Forrest S R, Highly Efficient Phosphorescent Emission from Organic Electroluminescent Devices [J].Nature1998，395:151-154. [12] Thomas K R J,Velusamy M, Lin J T，Tao Y T,Chuen C H.Cyanoe