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计算机组成与结构上机实验计算机组成原理上机实验
《计算机组成与结构》实验
实验一 运算器实验
1、实验原理
2、实验步骤
3、记录实验数据(用16进制表示)
4、实验总结与结论
附部分集成芯片电路图:
实验二 移位运算实验
1、实验原理
2、实验步骤
3、记录实验数据(用16进制表示)
4、实验总结与结论
8位双向移位寄存器74LS299
①异步清0端(低电平有效),
②CP时钟输入端(上升沿有效),
③输出使能端(同时为低电平有效),
④D7~D0为并行数据输入/输出端,
⑤Q7‘、Q0‘为串行数据输出端,DSL为左移数据输入端,DSR为右移数据输入端,
⑥S1S0为功能选择代码
在一个CP脉冲触发下:
①当S1S0=00时,Qi1= Qi(i=0,1,…,7),寄存器状态保持;
②当S1S0=10时,Qi1= Qi-1(i=1,2,…,7),Q01=DSL,寄存器左移;
③当S1S0=01时,Qi1= Qi+1(i=0,1,…,6),Q71=DSR,寄存器右移;
④当S1S0=11时,Qi1= Di(i=0,1,…,7),将并行数据置入寄存器,并且此时输出三态门被阻断,禁止寄存器数据输出。
实验三 存储器实验
1、实验原理
2、实验步骤
3、记录实验数据(用16进制表示)
4、实验总结与结论
实验四 总线控制实验
1、实验原理
2、实验步骤
3、记录实验数据(用16进制表示)
4、实验总结与结论
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