针对不同类型样品的原子力显微镜试验教学研究-中国高等学校试验.PDFVIP

第八届全国高等学校物理实验教学研讨会 哈尔滨工程大学 针对不同类型样品的原子力显微镜 实验教学研究 王中平 谢 宁 张宪峰 张增明 孙腊珍 中国科学技术大学物理学院 物理实验教学中心 2014.07.29 内容概要 扫描探针显微镜的简介  实验部分 样品制备与扫描探针显微镜测试 结果与讨论 研究性实验研究教学中的拓展 （a ）： 基于原子力显微镜的生物材料成像探究 （b）：基于扫描隧道显微镜的大范围扫描器的设计和研制  结束语 扫描探针显微镜介绍 • 1982年，IBM Zurich 实验室的Gerd Binnig和Heinrich Rohrer研制出世 界上第一台STM,其工作原理是基于量子力学中的隧道效应，使人类第一次 能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的 物理、化学性质。 • 在表面科学、材料科学、生命科学等领域的研究中有着重大的意义和广阔 的前景，被国际科学界公认为二十世纪八十年代世界十大科技成就之一。 • 1986年，STM的发明者G. Binnig和H. Rohrer被授予诺贝尔物理学奖。 G.Binning H.Rohrer STM在石墨表面刻蚀出来的图形和文字 分子人 原子力显微镜 (AFM) • STM 利用隧道电流成像，只能测试导电或者半导体样品 • Binnig, Quate, and Gerber 在 1985年发明原子力显微镜， 其基本原理是利用原子之间的范德华力的作用 • 原子力显微镜几乎对所有的表面成像，包含聚合物、陶 瓷、复合材料、玻璃和生物样品 Calvin Quate Gerd Binnig Christoph Gerber  AFM 图像 ITO薄膜 树枝晶结构 红血球 苯－丁－苯乙烯 染色体 混合聚合物 CD-R Groove 光盘沟槽 扫描探针显微镜家族 扫描探针显微术：使用一个尖锐的探针在样品表面扫描，在扫描过程中 记录探针与样品的相互作用，从而得到样品的表面信息 扫描隧道显微镜 Scanning Tunneling Microscope (STM) 1981 原子力显微镜 Atomic Force Microscope (AFM) 1986 ■接触模式Contact Mode AFM ■轻敲模式Tapping Mode AFM ■相移成像Phase Imaging ■抬起模式Lift Mode 横向力显微镜/ 摩擦力显微镜 Lateral Force Microscope (LFM) 1987 磁力显微镜 Magnetic Force Microscope (MFM) 1987 静电力显微镜 Electric Force Microscope (EFM) 1987 导电原子力显微镜 Conductive Atomic Force Microscope (CAFM) 1989 扫描声学探针显微镜 Scanning Probe Acoustic Microsc