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三维集成电路概述
第 章
1
三维集成电路概述
。
集成电路由一层半导体器件和多层互连线组成 早期提高性能和扩展功能的重点都集
, ( ) 、 ,
中在晶体管层面 即通过减小特征尺寸 CriticalDimension实现更高的速度 更低的功耗
[]
1
。 ( ) ,
以及更高的集成度 从 年 提出摩尔定律 即集成电
1965 GordonMoore Moore’sLaw
,
路的集成度以每 个月翻一番的速度提高 目前复杂微处理器已经集成了超过 亿个晶
18 10
。 ,
体管 摩尔定律的发展是依赖光刻技术的不断进步和器件的特征尺寸不断减小而实现的
即制造更小尺寸的金属氧化物半导体场效应晶体管(Metal-OxideSemiconductorField-
, ), , ,
EffectTransistorsMOSFET 提高单位面积的MOSFET数量 减小 MOSFET的功耗 提
。 ,
高工作速度 除了光刻技术的进步 集成电路特征尺寸的不断减小还依赖于新的制造工艺
, ,
及新材料的不断引入 如图 所示 从而维持了集成电路的集成度遵循着摩尔定律在不断
1-1
发展。
图1-1 集成电路发展不同技术节点引入的新材料和新工艺
, ,
从集成电路的发展历史来看 每进入一个新的技术节点 集成电路的集成度和性能都会
-6
, ,
提高50%~60% 而目前每个晶体管的成本已经下降到了10 美元 这一规律在 90nm技术
。 , ,
节点以前尤其明显 然而 随着集成电路技术的不断发展 到45nm以后每一个技术节点却
, ,
只能将集成电路的性能提高 左右 而相对于 以后晶圆厂近 亿美元的投资 技
20%
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