[英语学习]Lecture 8.ppt

点阵常数的测定与应用 ? 点阵常数的精确测量采用外推法还是采用最小二乘法，主要取决于偶然误差的大小，如果偶然误差小，所有实验点就会分布在一条直线上，很容易用外推法获得准确的结果。因为当 θ=90 °时，全部误差为零。对于偶然误差比较大的情况，用最小二乘法比较好，因为它可以消除偶然误差。在大多数情况下，两种方法所得点阵常数的精度相近。 四、精确晶胞参数数据的应用 精确的晶胞参数数据有很多重要的应用。有时也直接使用精确的晶面间距数据，这是因为晶面间距值能简单地由衍射角测值计算得到，而且当结构有微小变化或差异时，某些晶面的d值的变化或差异比晶胞参数更大。 固溶体类型的确定主要依据实验计 算的晶胞内所含原子的总质量。从实验 测量的晶胞参数和密度值便可以计算得 到晶胞的总质量；从晶胞的总质量和固 溶体的元素重量组成可以计算得单位晶 胞中的各种原子或离子的数目；从而可 以得知是否与结构位置的数目相当。 1、固溶体类型的研究 ? 现以一种奥氏体为例，其元素重量组成 为：Fe％ = 86.5％，Mn％ = 12.1，C％ = 1.34，结构为面心立方，a0 = 3.631?， 密度测值ρ= 7.83克／厘米3，则其晶胞 的总质量m为： ? m =ρ · a03 = 7.83×3.6313×10-24（克） * * 一、点阵常数测量中误差的来源 测量任何一个物理量都会产生两类误 差，即偶然误差（又称无规误差）和系统误差。 偶然误差主要指由测量者的主观判断误差和仪器仪表的波动、干扰等造成的误差。　　 系统误差是由实验方法本身和仪器的精密程度以及实验条件决定的。 随着实验技术的发展，现在测定晶胞参数能够达到很高的准确度和精密度，测量的相对误差达到1/20000已经不再能称为高精密的测定，好的测定工作应该能取得相对误差达到1/50000或者1/100000的结果，而且甚至有的可以达到1/200000，但是我们在采纳一个高精度数据的时候，对它的测定条件仍然需要进行仔细的审查。 根据布拉格方程? ＝ 2d sin ?可以看出，点阵常数的测量误差来源于波长和衍射角的误差，而X射线波长数据的精度已达10-6?，其误差可忽略不记（如CuKα波长1.541838?），所以这里主要考虑来源于衍射角的误差。 ? 用X射线衍射法测定结晶物质的点阵常数是一 种间接的方法，它是依据衍射图谱上线条的 位置2θ值，然后利用布拉格方程和各晶系的 面间距公式求得点阵常数。 晶胞参数需由已知指标的晶面间距来计算，因此，如果要精确测定晶胞参数，我们首先要对晶面间距测定中的系统误差进行分析。晶面间距 d 的测定准确度取决于衍射角的测定准确度。 二、晶胞参数的精确测定 ? 1、 衍射角的测量 误差Δθ与d值误 差Δd的关系： ? 微分Bragg方程可以 得到： ? ?ctg??? ?d d 这是个很重要的关系式，它给出了d值的相对测定误差和θ的关系。从上式可见，对于在较高角度下产生的衍射，同样大小的Δθ值引起的Δd值较小，当θ接近90°时，Δθ产生的Δd也趋于零。 0.003 0.010 0.021 0.048 0.099 Δd/d （%） 80 60 40 20 10 θ° 当Δθ = 0.01°时，对于不同衍射角的晶面所引入的d值测定的相对误差Δd/d 所以，无论是为了精确测定晶胞参数或者是为了比较结构参数的差异或变化，原则上都应该尽可能使用高角度衍射线的数据。因此在实际进行测定，需要选择适当的X射线波长，使得样品能在背射区域内有强度较高的线条可供测量。 ? 所谓“精确测定”包括了两方面的要求： 首先测定值的精密度要高（即测定值的重现性好），偶然误差要小；其次要求测定值要正确，系统误差也要小，并且要进行校正。 多晶衍射仪的θ角测定值对于尖锐并且明显的衍射线有很好的精度，可以达到±0.01°的水平。 2、衍射角测定中的系统误差 衍射角测定中的系统误差有几方面的来源：一是物理因素带来的，如X射线折射的影响，波长色散的影响等；二是测量方法的几何因素产生的。前者仅在极高精确度的测定中才需要考虑，而后者引入的误差则是精确测定时必须进行校正的。 2.1 衍射仪法中的测量误差 衍射仪法中记录的是衍射线的强度分布曲线。由强度分布曲线求出对应的布拉格角θ的方法称为定峰法。衍射仪法中的定峰法有多种，对点阵常数精确测定多采用中点连线法（如右图）。 (1)、一些物理因素引起的误差： ?入射X射线的色散及洛伦兹-偏振因子的影响; ? 折射效应：从一种介质入射到另一种介质时要发生折射，当点阵常数变化在10-5数量级时， 需要进行校正; ? 温度校正:当实验温度