X射线荧光测量方法第7章.pptVIP

7.2.2 基体效应及其校正 7.2 X射线荧光分析干扰因素及其校正 4 不均匀度效应与校正 2）矿化不均匀效应 矿化不均匀效应影响示意图 （a）原位X辐射取样结果偏低， （b）原位X辐射取样结果偏高 1.测点 2.矿脉 3.围岩 4.取样区域 7.2.2 基体效应及其校正 7.2 X射线荧光分析干扰因素及其校正 5 水分的影响与校正 不同品级铁样品水份影响结果 水分对原位X辐射取样结果的影响，主要表现在两个方面：1）水份对初级射线和次级射线(特征X射线和散射射线)的吸收；2）水分对初级射线的散射。吸收的结果，使得仪器记录的目标元素特征X射线的计数率减小，而散射的结果，使散射峰计数率增高，本底增大。 7.2.2 基体效应及其校正 7.2 X射线荧光分析干扰因素及其校正 6 粉尘的影响与校正 当围岩粉尘覆盖在矿石表面时，主要是吸收初级和次级射线(特征X射线和散射射线)，使取样结果偏低；而矿层粉尘则主要造成污染。当矿层粉尘吸附在矿化地段或者围岩井壁上时，取样结果是矿层粉尘中目标元素与井壁岩(矿)石中目标元素的平均含量；若粉尘较厚，则主要是矿层粉尘中目标元素的含量，造成取样结果偏高的假象。 消除粉尘影响的有效方法是，在原位X辐射取样工作前，对岩矿、石表面进行清洗。这是保证取样结果准确、可靠的必要工作程序之一。 7.3.1 X荧光测量在矿产资源勘查中的应用 7.3 X测量的应用 HLZ地区AsＸ荧光成果图 异常群及钻孔分布图 1-BaＸ荧光异常；2-SrX荧光异常; 5-未见矿孔位置及编号; 6-见矿孔位及编号 7.3.1 X荧光测量在矿产资源勘查中的应用 7.3 X测量的应用 Ⅱ号矿体上不同元素（Ｘ荧光异常）的垂直剖面 根据各个指示元素原生异常中心在空间上的相对位置确定元素的分带序列： Sr－Ba－Sb－Hg－As－Au－Pb－Ag－Cu－Mn－Ni 7.3.2 资源开采中的应用 7.3 X测量的应用 会理大铜矿某矿段Ｘ取样确定铜矿石品 位成果图（1-X取样；2-刻槽取样；3－砾岩） 7.3.2 资源开采中的应用 7.3 X测量的应用 会理大铜矿七下二三1-5采场采掘面Ｘ荧光编录图 1-采掘面边界线; 2-砾岩; 3-Ｘ取样测线; 4-铜等含量线 －应用核技术与自动化工程学院－ －应用核技术与自动化工程学院－ －核辐射测量方法－ －核辐射测量方法－ －核辐射测量方法－ －核辐射测量方法－ －核辐射测量方法－ 第七章 X射线荧光测量方法 1 X射线的本质与特点 －应用核技术与自动化工程学院－ 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律 电磁辐射谱 ? 小 能量高 大 能量低 X射线是波长极短的电磁波。波长在10－9～10－7cm。 7.1 X射线荧光法定性与定量分析原理 E=h ? , ? =c / ? 具有波－粒二象性。 光速、反射、折射、偏振、相干散射 波动性 微粒性 能量、电离、光电吸收、非相干散射 波长单位：10－10m 能量单位：eV 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律 7.1 X射线荧光法定性与定量分析原理 2 X荧光的产生 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律 7.1 X射线荧光法定性与定量分析原理 两步： 1）入射粒子与原子发生碰撞，从中逐出一个内层电子，此时原子处于受激状态。 2）随后(10-12～10-14s)，原子内层电子重新配位，即原子中的内层电子空位由较外层电子补充，两个壳层之间电子的能量差，就以X射线荧光的形式释放出来。 式中an－与内壳层电子数目有关的正数。 对K系X射线，n1=1，n2=2，an=1； 对L系X射线，n1=2，n2=3，an=3.5。 上式表明，特征X射线能量与原子序数的平方成正比。 莫塞莱定律的意义：奠定了利用特征X射线能量确定待测元素的理论依据。 3 莫塞莱定律 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律 7.1 X射线荧光法定性与定量分析原理 M L K 1S1/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 3d5/2 3d3/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 L线系 K线系 特征X射线能级图解 跃迁定则: △l =±1 △j = 0,±1 不同线系X射线的强度比 K：L：M＝100：10：1 4 X谱线系的产生 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律 7.1 X射线荧光法定性与定量分析原理 1）俄歇效应 在某些情况下，较外层（如L层）电子向K层跃迁时,多余的能量不是以特征X射线形式放出,而直接给予同一层(仍为L层)的某个电子,这个电子就脱离原子的束缚,成为自由电子。这种效应称为俄歇效应，这个电子称为俄歇电子。 5 俄歇效应与荧光产额 7.1.1 X射线荧光的产生与莫塞莱定律