单片机crc校验实验报告.docVIP

单片机课程总实验 ——实现CRC校验 实验目的 ⒈ 通过学习CRC原理，验证，检错，掌握其工作原理； ⒉ 编写CRC编码程序； ⒊ 总结实验过程，编写提交实验报告：方案、编程、调试、结果、分析、结论。 二、 实验要求 用单片机实现CRC校验码（10比特数据或任意数据长度、生成多项式用G（x）= x5 + x4 + x2 + 1 ）， 校验码显示在单片机实验系统数码管上。 实验器材 1、装有Keil C51开发工具的PC机一台 2、TD-PIT/TD-PIT-B实验装置一套 实验原理 1．设置CRC寄存器，并给其赋初始值。 2．将数据的第一个 8-bit 字符与 16 位CRC 寄存器的低 8 位进行 异或，并把结果存入CRC寄存器。 3．CRC 寄存器向右移一位，最高位补零，移出并检 查最低位 。 4．如果 LSB 为 0，重复第三步；若 LSB 为 1，CRC 寄存器与多 项式码相异或。 5．重复第 3 与第 4 步直到 8 次移位全部完成。此时一个 8-bit 数 据处理完毕。 6．重复第 2 至第 5 步直到所有数据全部处理完成。 7．最终 CRC 寄存器的内容即为 CRC 值。 常用的CRC循环冗余校验标准多项式如下： CRC (12 位) =X12+X11+X3+X2+X+1 CRC (16 位) = X16+X15+X2+1CRC (CCITT) = X16+X12 +X5+1 CRC (32 位) = X32+X26+X23+X16+X12+X11+X10+ X8+X7+ X5+X4+X2+X+1 以 CRC (16 位)多项式为例， 其对应校验二进制位列为 1 1000 0000 0000 0101本次实验以10比特为例。显示到六位数码管中。 其实验连接图如下图所示。 实验步骤 1.打开Keil C51开发工具，新建开发工具，并保存至相应路径。 2.新建文件，编写代码。 3.按照实验连线图在实验箱上连线。 4.编译运行代码勿误后，打开实验箱，点击调试，运行。 实验结果 经过调试程序，在实验箱数码管上显示二进制数001110. 实验源代码 #include Absacc.h #define C8255_A XBYTE[0x7F00] //8255端口地址定义 #define C8255_B XBYTE[0x7F01] #define C8255_C XBYTE[0x7F02] #define C8255_CON XBYTE[0x7F03] //数码管显示编号 unsigned char a[] = {0x3f, 0x06, 0x5b, 0x4f, 0x66, 0x6d, 0x7d, 0x07, 0x7f, 0x6f, 0x77, 0x7c, 0x39, 0x5e, 0x79, 0x71}; unsigned char b[] = {0x00, 0x00, 0x00, 0x00, 0x00, 0x00}; long MD; long GD; void delay(unsigned int time) { unsigned int i; for(i=0; itime; i++); } void display() //显示函数 { unsigned char i, j = 0xDF; for(i=0; i6; i++) { C8255_A = 0xFF; C8255_B = a[b[i]]; //查表输出显示 C8255_A = j; delay(0x100); j = (j1)|(j7); } } void clear() //清屏 { C8255_B = 0x00; } void CRC_check(long MD1,long GD1) { long MD = MD1 ; // 需要校验的数据 long GD = GD1; long tmp; //临时变量保存多个移位，或恢复原值信息 int count_MD; //校验数据的 位数 int count_GD; //多项式的 位数 int count; //两者位数差 long tst0 = 1; //判断余数最高位是否为 0 int i; tmp = MD; //数 MD 有多少位 tmp用于暂存MD fo