红外焦平面阵列非均匀校正算法的ＡＳＩＣ设计.docVIP

红外焦平面阵列非均匀校正算法的ＡＳＩＣ设计 　　摘 要：红外焦平面阵列响应率的非均匀性是制约红外成像质量的主要因素。考虑实时处理的需要，基于温度定标两点校正法，进行ASIC设计。在阐述芯片结构基础上介绍各种模式功能。ASIC设计具有实时性好、体积小、性价比高的优点，适用于红外成像系统进行高速实时处理。最后给出在具有自主知识产权SoC芯片Garifield4上的算法验证结果。?? 　　关键词：红外焦平面阵列；非均匀性校正；ASIC；两点法?? 　　中图分类号：TP274 文献标识码：B 文章编号：1004-373X(2008)02-142-03 　　 　　Design of IRFPA Nonuniformity Correction Algorithm Using ASIC?? 　　DU Honghua,ZHANG Meng,XIAO Peng?? 　　(National ASIC System Research Center,Southeast University,Nanjing,210096,China)[HJ1*3]??[HJ] 　　[HJ*2]Abstract：The key quality point which effect IR image is nonunifomity of Infrared Focal Plane Array(IRFPA).Here think about the requirement of real-time,to make Application Specific Integrated Circuit(ASIC) based on two-point nonuniform correction algorithm.This article introduces chip′s structure and mode′s functions.ASIC design has advantages of good real-time,small size and high quality with low cost.It is suit for processing image at high speed real-time in IR imaging system.The algorithm has been verified at Garifield4 which is designed by national ASIC system research center of Southeast University.?? 　　Keywords：IRFPA;non-uniformity correction;ASIC;two-point method 　　 　　1 引 言?? 　　 　　红外焦平面阵列(IRFPA)探测元具有敏感度高、探测能力强等优点，用他构成的成像系统具有结构简单、可靠性高以及系统工作帧频较高。IRFPA各阵列元响应率的非均匀性，读出电路自身及读出电路与探测器偶合的非均匀性和暗电流的非均匀性等因素统称为IRFPA的非均匀性［1,2］。其极大地影响红外成像系统的图像质量，成为IRFPA应用的瓶颈，所以必须对IRFPA的探测信号进行校正。?? 　　根据获得非均匀性校正参数原理的不同，可将非均匀性校正算法分为基于温度定标的方法和基于场景的方法。基于温度定标法采用简化的数学模型，包括两点法和多点法，其中两点法是研究较早的一种算法，由于其数学模型相对简单，易于硬件实现，其成为红外成像系统中应用较广泛的一种校正方法［3］。本文考虑到实时处理的需要，基于温度定标两点校正法，进行ASIC设计。?? 　　 　　2 温度定标两点法的基本原理?? 　　 　　在前述的影响IRFPA的非均匀性的因数中，假设：?? 　　(1) 在感兴趣的范围内各阵列元的响应是线性的；?? 　　(2) 各阵列元的响应率在时间上稳定；?? 　　(3) 其他噪声如暗电流等的影响较小。?? 　　基于温度定标两点校正法的硬件实现通常包括乘加运算单元和校正系数存储和读取单元。结构相对简单，易于ASIC设计，是当前系统实现的主流算法。?? 　　 　　3 基于温度定标两点法的ASIC设计?? 　　 　　根据温度定标两点校正法进行高速乘加运算的特点，需要预先对校正系数进行存储同时保证校正系数非易失性。而校正系数读取速率是整个芯片工作频率瓶颈，因此采用NORFLASH和SRAM的双存储器结构，将校正系数保存在NORFLASH中，上电复位处于工作模式时通过内部控制单元将NORFLASH中数据搬运到SRAM中，由于目前SRAM数据存取时间都小于10 ns［7］，可以很好地满足需求。??