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基-本-统-计-学
第一章 基 本 统 计 学 一、统计中常用数据 例: 二、直方图 3、求距(R) 6、画直方图 7、直方图的分类、看法及其功能 第二章、常用统计量的计算 第三章、过程(制程)能力计算 四、控制图(制程管制) 习题:请依下列资料绘制X-R控制图 解: 1、求 = 8.12+8.2+8.2+8.2+8.24+8.16+8.18+8.14+8.14+8.12 X X = n Σ (Xi) I=1 n 10 =8.16 CL= X = 8.142 n Σ (Ri) I=1 n R = = 0.2+0.2+0.2+0.2+0.3+0.3+0.3+0.3+0.1+0.3 10 = 0.24 UCL= +A2× R X = 8.142+0.577×0.24=8.298 X LCL= -A2× R = 8.142-0.577×0.24=8.022 X控制图 R控制图 CL=R =0.24 UCL=D4× R =2.115×0.24=0.5076 LCL=D3× R =0 画X—R控制图 7 X管制图 8.00 8.05 8.10 8.15 8.20 8.25 8.30 1 2 3 4 5 6 8 9 10 CL=8.16 UCL=8.298 LCL=8.022 Su=8.3 SL=8.1 R管制图 CL=0.24 UCL=5.076 LCL=0 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 1 2 3 4 5 6 8 9 10 7 ≈ 由上图可知,过程在控制状态,但仍有不良品产生,这说明在管理方法上存在一定的问题, 还需要进一步改进. 判定: 7 5 6 6 3 5 5 7 6 5 5 8 4 4 8 3 R 50.6 50.6 50.2 50.4 50.4 49.2 50.4 50. 49 49.2 49.2 51.2 49.6 47.4 49.6 50.4 X 53 52 51 55 50 50 48 53 52 52 54 50 52 49 50 51 X5 51 51 52 50 46 46 53 45 49 48 51 54 49 48 45 52 X4 53 49 47 49 49 49 51 46 46 50 52 50 49 49 53 49 X3 50 48 48 49 50 50 51 50 50 49 49 48 45 45 53 50 X2 46 53 53 49 50 51 49 50 48 47 50 46 50 46 47 55 X1 测 定 量 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 4/1 日期 解: 1、求 = X X = n Σ (Xi) I=1 n CL= X = 49.8 n Σ (Ri) I=1 n R = = UCL= +A2× R X = 49.8+0.577×5.438=52.9 X LCL= -A2× R = 49.8-0.577×5.438=46.66 X控制图 R控制图 CL=R =5.438 UCL=D4× R =2.115×5.438=11.5 LCL=D3× R =0 49.8 5.438 画X—R控制图 X管制图 45 47.5 50 52.5 55 CL=49.8 UCL=52.9 LCL=46.66 R管制图 CL=5.438 UCL=11.5 LCL=0 ≈ 由上图可知,过程在控制状态 判定: 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14 15 16 7 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14 15 16 7 0 5 10 8、X-R控制图 X图看组间变动, R图看组内变动 假如X图出现异常说明在管理上出现了问题,例如4M出现问题。 R图出现异常说明技术上出现了问题,例如车床不稳定等。 控制图希望是组内变动是偶然原因引起。 在出现异常状态时,希望组内变动是越小或越稳定越好,组间变动越大或越明显越好,这样便于找原因及对策方案的实施 19 20 18 19 23 14 17 18 19 17 18 21 B机 18 16 20 19 A机 下午 上午 下午 上午 6/6 6/5 成一组(甲) 成一组(乙) 甲的组方式是: 组内变动主要为AB机台间 组间变动主要为上下午间 乙组分组方式是: 组内变动主要是上下午间 组间变动为AB机台间 6、控制状态的判断及看法 1、控制图上面的点若符合下列条件,则可视为过程在控制状态 A、点的变动为随机状态,无任何规律可循 B、中心线近旁的点最多,愈离中心线点愈少,且中心线上下约有同数的点 C、没有点超出控制界限(即在控制状态) 2、非控制状态的判断 虽然控制图上的点都在控制界限内,但仍有可能出现过程异常,如非随机产生的点, A
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