[物理]测量系统分析2.ppt

1 1 七、测量系统分析 测量系统分析的目的是了解测量系统变差的原因。除了分析变差的五种类型外，还要分析测量系统的分辨力。测量系统分析的前提是被测零件不受测量改变或破坏。 测量系统分析的准备 实施研究之前的典型准备如下： 确定使用的方法。如： 通过目视观察或量具研究来确定评价人在校准或使用仪器中产生影响。 有些测量系统的再现性影响可忽略，如按按钮，打印出一个数据。 测量系统分析的准备 评价人的数量、样品数量及重复读数次数应预先确定。应考虑的因素: 关键尺寸需要更多的零件/试验。 零件结构大或重者可规定较少样品和较多试验。 评价人应从日常操作该仪器的人中选择。 测量系统分析的准备 样品的选择应具有代表性。 对于产品控制，测量结果和判断准则用于确定：“相对特性规范确定合格或不合格”(如100%检验或抽样)，选择的样本(或标准)不需要覆盖整个过程范围； 对于过程控制，测量结果和判断准则用于确定：“过程稳定性、方向和符合自然过程变差”(如SPC、过程监视、能力及过程改进)，样本要覆盖整个过程变差； 测量系统分析准备 仪器的分辨力应至少直接读取特性的预期过程变差的1/10； 确保测量方法(如，评价人和仪器)正在测量特性的尺寸并遵守规定的测量程序。 在制定第1阶段或第2阶段试验计划时，应考虑： 评价人对测量过程有否影响？ 评价人对测量设备的校准是否可能是引起变差的一个显著原因？ 要求有多少样品和重复读数？ 分辨力的确定 分辨力：是仪器可以探测到并如实显示的参考值的变化量，也称为可读性或分辨率。 测量系统的分辨力：是指测量系统检出并如实指出被测特性微小变化的能力。 测量系统可接受的分辨力：是能够测出过程的变差，包括特殊原因变差，图7-1过程分布的分组数（ndc）可说明分辨力的概念； 分辨力确定 可视分辨力：测量仪器的最小增量。 建议可视分辨力应小于等于过程变差σ6倍的十分之一。即 分辨力不足可在控制图极差图(图7-2)中表现出来： 极差图控制限内，可能有1~3个极差值； 可能有≤4个极差值在控制限内，且1/4的极差值为零。 过程分布的分组(级)数(ndc)对控制和分析活动的影响——分辨率说明 不同分辨力在控制图上的反映示例 关于分辨力的说明 如果测量系统没有足够的分辨力，它可能不是识别过程变差或定量表示单个零件特性值的合适系统；应该选择更好的测量系统。 如果不能测定出过程变差，这种分辨力用于分析是不可接受的，如果不能测定出特殊原因的变差，他用于控制也是不可接受的。 计量型测量系统研究指南 确定稳定性的指南 区分两种稳定性 随时间变化系统偏倚的总变差； 统计稳定，包含重复性、偏倚、一般过程等。 研究测量稳定性的方法:应用控制图技术。 取一样本并建立基准值。如不可获得，选择一个落在产品测量中程数的生产零件，为标准样本。 计量型测量系统研究指南 分别对每个标准样本测量并绘制控制图。 定期(天，周)测量标准样本3~5次。 应在不同的时间读数，以代表测量系统的实际使用情况，记录在一天中预热、周围环境和其它因素的变化。 稳定性-举例 为了确定一个新的测量装置稳定性是否可接受，工艺小组： 选择样本：在生产测量的中程数附近选择了一个零件； 确定其基准值：在测量实验室中测10次得均值为6.01； 测量频次：5次/班，共测4周(20个子组)； 偏倚分析指南 做法 获取一个样本并建立相对于可溯源标准的基准值: 如得不到，选择一个落在生产测量的中程数的生产零件，作为标准样本； 在工具室测量该零件n≥10次，并计算均值，作为“基准值”； 让一个评价人以通常的方法测量该样本10次以上。 计算测量值的均值—观测平均值 计算和结果分析 偏倚=观测平均值-基准值 重复性分析 造成重复性误差的两个一般原因是： 仪器自身的变差 零件在仪器中的位置 重复性的确定 在极差图受控的情况下，重复性标准差（亦称仪器变差），记作EV ＝5.15 σ σe=Ｒe/d2 再现性分析 再现性用评价人平均值的极差R0来求出标准差σ0。 σ0＝R0/d2 R0—不同评价人平均值的最大值与 最小值之差 重复性和再现性 测量系统的变差 式中：σm——测量系统的变差（RR） σa——量具的重复性（量具的变差）