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EA3030 综合测试仪 EA3030 综合测试仪 概述 越来越多的电子电气企事业单位都认识到频繁地进行电磁兼容（EMC）/电磁干扰（EMI） 检测，整改，已经成为降低产品研发成本，缩短产品开发周期的主要瓶颈。 从研发，样品到正式生产的整个过程中进行EMI 预兼容测试就是突破这一瓶颈的常规手 段。进行EMC 预兼容测试已经成为了电子行业的共识。 而大量中小型企业和电子产品设计室一直在寻找一套低成本而高效的兼容测试方案。 安徽白鹭电子科技有限公司和北京泰派斯特科技发展有限公司合作研制的便携式EMC 综合测试仪，与传统EMC 预测试系统相比具有以下几个优点： 1) 集多功能于一体，由频谱模块、 LISN（AMN）模块、共差模分离模块、 电 网瞬态干扰监测模块和滤波器设计软件等 组成； 2) 附件有近场（电、磁）探头、电流 检测探头（钳式）、电流注入探 头（钳式）、滤波器测试工装等； 3) 便携式、高性能和低价位。 图 1 EA3030 综合测试仪组成框图 1 传统 EMC 预测试系统的功能和组成 大多数的电子产品都需要通过传导发射和辐射发射两类 EMI 测试。 1) 传导 发射（CE）的测试功能和组成 这时都是使用频谱分析仪测量由LISN  所拾取到的干扰信号。 拾取电源线上传导干扰信号的最常用 设备是线性阻抗稳定网络(LISN)。其中瞬态 限幅器可以有效的避免频谱分析仪被LISN  图2 经典的传导测试仪配置 产生的大功率瞬态信号损坏。 而传导测试的被测件，附件和频谱仪完全是通过电缆连接，但这时LISN 只能测出传导干 扰信号的总量。 2) 辐射发射（RE）的测试功能和组成 使用近场探头进行EMC 预测试和故障诊断 正规的辐射发射测试，无论是三米法还是十米法，都是进行远场测量。而使用近场探头 测量的是近场电磁波。两者的测试结果无法进行数学推导换算。这样我们就不能直接把近场 测试结果和远场测试结果进行直接转换。 但是一个基本原则是，近场的辐射 越大，远场的辐射也必然越大。这就为 近场探头测试提供了理论依据。而使用 近场探头测试，我们需要把新被测件测 试结果和一个已知合格被测件的近场探 头测试结果进行比较。换句话说，如果 新被测件测试结果比已知合格被测件的近场探头测试结果高20dB,那么，只需设法降低新被 测件20dB  的辐射发射就合格了。一般推荐使用灵敏度高的电场探头和磁场探头，这时对距 离已不太敏感。 如果一个新产品在EMI 预测试或者标准测试中超标，进行故障诊断和改进是当务之急。 在故障定位的过程中，尺寸较小的磁场探头可以更好的完成工作。虽然小尺寸的磁场探头灵 敏度低，但是空间分辨率更高。通过把探头在被测件或者电路上缓慢移动，通过观测频谱仪 上频谱幅度的变化，工程师可以准确的把可疑辐射源的区域定位到很小的一块电路区。 2 因此，传统EMI 预测试系统可以为所有电子工程师提供了一个专业的EMI 预测试