X射线粉末衍射从头晶体结构测定一一.pdfVIP

化学学报 Aα:A CHIMICA SINICA 1998,56 , 1184 - 1191 X 射线粉末衍射从头晶体结构测定 一一[CO( NH3 ) 5Br]Br2 配合物的晶体结构 马礼敦锵 吴宏翔 (复旦大学分析测试中心 上海 2刷33) 孙杰 孔祥福 (中国科学院上海有机化学研究所上海江阴32) 摘要 总结了粉末衍射从头晶体结构测定中的问题与对策，并采用常规 X 射线粉末衍射数据，从 头测定了配合物[Co( NH3)sBr] Br2 的晶体结构.在指标化与分峰基础上，采用直接法获得含7 个独 立非 H 原子的粗结构.在l(f - 80(28)范围内用35∞个强度数据对38 个参数作Rietveld 精修，得到 了[Co(阳3)sBr]陆的晶体结构.其晶胞参数为: a = 1.交胆(l)nm， b = 1. σ7lT7 (l)nm， c=0.酬。(1) nm , V= 1.0175 ( l)IUIf, Z = 4. 空间群:Pnrrw 品质因子:M]JJ =49 , F:到= 93 (0.ω75 ， 43) ，结构吻合因 子:Rp=O仪蝠， R呻=0.α刻， RF= 0.041 ,R = 0.042. B 关键词 粉末衍射，全谱拟合，从头晶体结构测定 很长一段时间来，由于单晶结构分析只能研究完整单晶体的制约，科研工作者一直希望能 够利用粉末衍射法来解决一些无法获得单晶体或者只有在粉末状态才能体现其特定性能的物 质结构的修正与测定工作.X 射线粉末衍射，由于把三维倒易点阵转变为一维，只能获得一维 坐标(衍射角的信息，造成了衍射峰的重叠与衍射信息的损失，因而极大地限制了粉末衍射法 在结构解析中的应用.1967 年Rietveld 首次提出全谱拟合的思想[1] ，采用步进扫描的峰形强度 而非衍射峰的积分强度来优化结构参数，从而保证了结构精修的统计准确性.八十年代初，这 一思想开始被应用于重叠峰的分离.在此基础上，经过广大科研工作者的努力，已建立起一整 套数据处理方法，并于八十年代末初步实现了完全利用粉末衍射数据的从头晶体结构测定.目 前这方面的研究工作国际上已达较高水平，而国内尚无完整的应用先例.本文报道了作者应用 粉末衍射从头晶体结构测定方法就配合物[Co(NH )sBr] Br2( 尚无 PDF 卡和结构数据)所做的 3 结构测定工作. 1 实验 1. 1 样晶合成与化学分析 配合物[Co(NH )sBr] 2 的合成采用 Díehl 等[2] 提出的方法.试样经重结晶提纯，得到紫色 Br 3 3 结晶产物.实测样品密度为 2.53 glcm • [Co(盹)州] Brz, (计算值: Co, 15.36; Br总， 62.46; ·勇.62 岁，教授 收稿日期:1997-09-28.修回日期: 1998 - 02 - 19. 国家自然科学基金(29573棚)资助课题 化学学报 A口ACl组MICA SINlCA 1佣8 1185 Br.外界， 41. 64; NI屯，22.18. 实测值:Co , 15.28;B弛，62.42;Br，外界，42.30;N吨，22.22). 1.2 X 射线粉末衍射数据收集 三地 甲 粉末数据在田7棚计算机控制的理学 D/MAX-rB 衍射仪上收集.采用铜靶，向波长为