两种测定难熔单晶晶面偏离角方法的对比.pdf

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2018-06-06 发布于天津
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两种测定难熔单晶晶面偏离角方法的对比

: / DOI１０．１１９７３lh Ｇwl２０１６０１００５ jy 两种测定难熔单晶晶面偏离角方法的对比 , , , 刘竞艳李鹏苗壮田弋纬　　 ( , ) 西北有色金属研究院西安７１００１６ : , 摘要单晶晶面偏离角的测定是单晶生长和加工过程中的重要环节通过试验比较研究了两　 . : 种测定难熔单晶晶面偏离角方法的优缺点结果表明在试样高速旋转同时对试样进行固定角２θ , , , 扫描的扫描方法能够快速准确地测定出偏离角测定效率高完全可以满足现阶段单晶生产过 θ . (,) 程中对晶面偏离角测定的要求而另一种方法是由 ωφ 二维数据确定出晶面偏离角和晶面方 , , . 位但该方法测试时间过长效率低下 : ; ; 关键词难熔单晶体晶面偏离角中图分类号: ＋文献标志码: 文章编号: ( ) TG１１５．２２２　　　 A　　　１００１Ｇ４０１２２０１６０１Ｇ００１７Ｇ０４ Com arisononTwoMeasurin MethodsofCrstalPlaneOrientationDeviation p g y AnleofRefractorMonocrstals g y y , , , LIUJinＧan LIPen MIAOZhuan TIANYiＧwei gy g g ( , ’ , ) NorthwestInstituteforNonＧferrousMetalResearch Xian７１００１６ China Abstract:Itwasof reatim ortancetomeasurethecrstallaneorientationdeviationanleofrefractor g p y p g y monocrstalsdurin the rowthandfabrication rocess．Theadvantaesanddisadvantaesoftwomeasurin