第8章 随机测试和伪随机测试.ppt

南京航空航天大学 111111 南京航空航天大学 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 (8.27) 其中： ， (i=2~m)是对应于生成De Bruijn序列的多项式 的系数； 是De Bruijn序列的一个单元，在第(k+1)个时钟操作中按生成电路的第一个存储单元处理。 2. De Bruijn序列 De Bruijn序列是对M序列插入零图形所形成的序列，零图形是通过对(000…01)译码得到的，由于包含(m-1)个“0”的图形在一个周期只出现一次，因此可以用(m-1)输入的或非门来实现(000…01)译码成零图形这种组合逻辑。 基于译码器的De Bruijn序列分析表达式为： 第8章 随机测试和伪随机测试 例，选择多项式对应De Bruijn序列的生成电路。 按照式(8.27)所生成的序列的逻辑关系式为： a1(k+1)=a2(k)⊕a5(k)⊕[a1(k)+a2(k)+a3(k)+a4(k)] (8.28) a2(k+1)=a1(k) a3(k+1)=a2(k) a4(k+1)=a3(k) a5(k+1)=a4(k) 第8章 随机测试和伪随机测试 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 设计的De Bruijn序列生成电路如图8.14。 该电路能够生成完全测试集。 当a1a2a3a4a5=00001时： a0=a2⊕a5⊕或非门输出 =0 ⊕1⊕1=0 所以，在下一个CLK有： a1a2a3a4a5=00000 再下一个CLK有： a1a2a3a4a5=10000 该电路能够生成完全测试集 8.5.2 加权伪随机序列 第8章 随机测试和伪随机测试 8.5.3 细胞自动机 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 8.6 低功耗测试序列 第8章 随机测试和伪随机测试 （1）随机测试图形大量的、不断变化的位码，会使测试功耗大大增加。 （2）伪随机测试中常用的是固定型故障模型，此模型难以描述CMOS深亚微米技术中的缺陷。有效的方法是设计一种“全能”的测试生成电路，可同时生成检测固定型故障以及CMOS其他类型故障的测试图形。 新的BIST技术的核心电路就是输入单个位变化的伪随机测试生成电路(RSIC)。 8.6.1 RSIC序列生成原理 RSIC序列生成电路的典型结构如图所示。 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 传统的结构化的伪随机生成方法存在诸多问题需要解决。 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 例，对于一个8位代码转换电路，植入种子向实现的转换关系是按M序列的每一向量对应的十进制值选中某位，然后对该位求反，得到的RSIC序列如表8.8所列。 第8章 随机测试和伪随机测试 （1）在任意时刻t，m位伪随机序列生成电路生成向量A(t)=a1(t)…am(t)； （2）将此向量输入到预先植入种子向量的代码转换电路中，代码转换电路根据向量A(t)的值以一定的关系每次只选中一位，使得该位值发生变化，得到向量V(t)=V1(t)…VN(t)； （3）将V(t)加到被测电路CUT上。 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 0) 010 (2) 15(255) 010 (2) 82) 011 (3) 14(253) 011 (3) 7(6) 110 (6) 13(249) 110 (6) 6(38) 100 (4) 12(217) 100 (4) 5(46) 1000 (8) 11(209) 000 (0) 4(174) 111 (7) 10(81) 111 (7) 3