[心理学]端子温升计算介面.ppt

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2018-03-10 发布于浙江
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[心理学]端子温升计算介面

Confidential 2002/6/20 Page:*/11 機能早會2002/06/20-CAE/KS 簡易端子溫升計算介面- 初步開發成果 prepared by 陳啟明/FEA/TW 2002/06/20 Contents 工程分析Q1~Q2案件統計電阻與溫升計算介面基本公式與假設應用範圍使用者介面實例說明與驗證結論與未來發展方向 Projects in 1-2 Quarters, 2002 Total = 167 Total = 83 DS = 32% MH = 19% NB = 31% Cable = 18% DS = 33% MH = 29% NB = 18% Cable = 20% Projects compare to 2001 83 17 15 24 27 1-2Q,2002 109 *54 13 27 15 2001 TOTAL CABLE NB MH DS Mold Flow Analysis (76.1%) 167 30 51 32 54 1-2Q,2002 188 11 50 50 77 2001 TOTAL CABLE NB MH DS Structure Analysis (88.8%) * Includes projects from NHK USA LLCR T-rise – 基本公式電阻：電能：熱傳導： R: 電阻(m?) Q: 能量(W) L: 通電的端子長度(mm) A: 通電的端子截面積(mm2) T: 溫度(°C or °K) I: 電流(Amp.) Ke: 導電係數(1/?.mm) Kt: 熱傳導係數(W/mm °K.sec) 例如：C5191R-H, %IACS=14, Ke = 58000 x 0.14 = 8.12E3 (1/?.mm) LLCR T-rise – 假設只考慮單一導體的阻抗與溫升。所有電能皆100%轉為熱能。忽略所有熱對流(heat convection)與熱輻射(heat radiation)效應。電流流入與流出端皆假設為固定溫度(如同接上固定溫度的heat sink)。則此端子的最大穩態溫升可推算為： Grounding(V=0) I T=T0 T=T0 T=T1 T(°C) ?T=T1-T0 L LLCR T-rise – 應用範圍(1) 公母端子皆為等截面、相同材料端子。在良好、清潔的接觸條件下，單一接觸阻抗(interface resistance) = 4.0m?。則端子接觸對的最大穩態溫升可推算為： l1,l2:通過電流的端子長度(mm) Grounding(V=0) I T=T0 T=T0 T=T1 T(°C) ?T=T1-T0 l1+l2 A,l1 A,l2 LLCR T-rise – 應用範圍(2) 公母端子為非等截面、不同材料端子。在良好、清潔的接觸條件下，單一接觸阻抗(interface resistance) = 4.0m?。則端子接觸對的最大穩態溫升，依現有經驗，可推算為： Grounding(V=0) I T=T0 T=T0 ?T1 ?T2 T(°C) ?T=(?T1 +?T2 )/2 l1+l2 端子平均截面積(=V/L).