第1章-材料现代微观分析技术概论.pptVIP

材料现代微观分析技术 ——基本原理及应用 本课程的主要内容 本课程的教学试验环节 课时安排 第 1 章 概 论 一. 材料工程与显微分析 材 料 工 程 传统的淬火工艺 珠光体和马氏体组织 碳元素的同素异构结构 碳的第一和第二种结构 碳的第三和第四种结构 碳的三种相结构 多层纳米碳管的透射电镜像 纳米碳管的用途 纳米碳管结构完美无缺，强度接近自然界材料理论上的最高强度。 比重是钢的1/10，强度是钢的几百倍，人们设想用它做登月球的梯子。 纳米碳管的最小直径可达0.4nm，此时呈金属导电性。 形状记忆合金 1951年首次在Au-Cd合金中发现形状记忆效应 1963年美国海军武器实验室发现Ni-Ti合金具有形状记忆效应，引起各国的重视。 Ti系： Ni-Ti，TiNbSn，TiNbZr 有色系： Co-Ni, Ti-No, Au-Cu-Zn, Au-Cd, Ag-Cd, In-Ti Cu-Zn系, Cu-Zn-X (X=Si, Al, Sn) Cu-Al-Ni系 Fe系 形状记忆弹簧 随温度变化的鱼 自由自在的轮椅靠背 形状记忆合金 形状记忆合金原理图 Pt中孪晶 Al-Mn准晶相 STM应用例－世界上最小的广告 STM应用例－纳米绘画艺术 二. 显微技术发展历史 光学显微镜 阿贝(Abbe)理论 X－射线 的发现 电子的发现 X－射线衍射仪 电子显微镜诞生前夜 电子显微镜诞生 扫描探针显微镜 1986年获诺贝尔物理学奖 下面讲第三个问题，现代微观测试仪器 入射电子与固体样品作用时产生的信号 2. 现代测试仪器种类 3. 现代测试仪器的性能及用途 ①透射电子显微镜(TEM) 日本大阪大学3000kV超高压透射电镜，高11m，重70T 超高压透射电子显微镜操纵室 H800型200KV透射电子显微镜 JEOL-2100TEM JEOL-3010TEM 原子识別电子显微镜 ②扫描电子显微镜(SEM) 场发射扫描电镜 ③电子探针X射线显微分析仪(EPMA） 电子探针X射线显微分析仪 ④俄歇电子能谱仪 俄歇电子能谱仪 ⑤扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜的特点 ⑥原子力显微镜(AFM) AFM的特点和使用范围 X射线衍射仪 本章小结 1.分辨率极高。水平分辨率小于0.1纳米，垂直分辨率小于0.001纳米。 2.能真正看到原子。不用通过间接的或计算的方法来推算样品的表面结构。 3. 使用环境宽松。真空中，大气中、低温、常温、高温，甚至在溶液中使用。 样品必须是导体或半导体。对非导电材料无能为力. 人眼分辨本领： 1/60度视角的物体 明视距离下能分辨 0.1mm 16世纪，虎克发明了光学显微镜，并在改进方面进行了不懈的努力。 光镜经几百年完善，达到极限分辨本领 0.2μ m（2000?） 主要的二大贡献:发现細胞，弹性定律（虎克定律） Robert Hooke 英国人 1635年～1703年 1872年德国科学家阿贝(Abbe)在物镜和载物台之间滴上油制成油沁透镜，提高放大倍数。 1876年阿贝从理论上证明了显微镜的分辨本领极限取决于照明光源的半波长（λ）。 d极限=λ/2 光学显微镜用可见光照明，可见光的波长3900～7600 ?，所以 2000 ?是极限。 1895年伦琴(Rёntgen)在研究阴极荧光时发现了一种未知射线，取名为X－射线 波长100～0.5?。 1901年伦琴获第1届诺贝尔物理学奖。 Wilhelm Conrad Rёntgen 1845年～1923年 德国人 要探索更微观的世界，就要寻找波长更短的光源。 1897年汤姆森（Joseph John Thomson）发现了比原子更小的粒子一电子。这一发现打开了20世纪原子物理学的大门。 1906年获诺贝尔物理学奖。 Joseph John Thomson1859年～1940年英国人 1912年劳埃发现X－射线在晶体中的衍射现象，布拉格父子用X射线衍射方法测定了NaCl晶体的结构，开创了晶体结构分析的历史。 使微观测试技术从μm →nm。 光学显微镜，X射线衍射在微观研究中发挥了重要的作用。但是光学显微镜分辨率低；X射线衍射衍射信息弱，聚焦成像困难，只能给出总体和平均的结果，因此限制了它们的应用。 1924年德布罗意（De Broglie）发现高速运动的电子波长很短，λ ＝0 05?。 1926年布施（Busch）提出用轴对称的电场，轴对称的磁场来聚焦电子线。 1927年戴维森（C.J.Davisson）,汤姆森（G.P.Thomson）证实了电子的波动性。 从