G-M计数器和核衰变的统计规律试验.PDF

G-M计数器和核衰变的统 计规律实验 主讲人：李武杰、龚意成 一、实验目的  GM计数管是一种常用的核物理探测器，本实 验是利用GM计数管研究放射性测量数据分布 规律的实验。了解GM计数管的基本性能和使 用方法，检验核衰变的统计律——泊松分布和 高斯分布。学习放射测量结果的统计误差表示 2 方法和X 检验方法。 二、实验内容  1.观察G-M计数器的分辨时间和死时间。  2.观察放射源的计数率分布。  3.观察微分参数对G-M计数器的影响。  4.观察采样电阻对G-M技术器的影响。 实验原理  G-M计数器 G-M计数器是核辐射 测量中最基本的气体 探测器之一,它主要用 来测量γ射线和β射线 的强度，也可用于测 量α射线和X射线。  入射带电粒子穿过气体使气 体分子电离而产生电子－正 离子对。其中一些电离电子 能量较大，还可以使气体分 子进一步电离。实验证明， 在很宽的能量范围内，总电 离与入射粒子的能量成正比 关系。  气体分子电离后，外加 电场，电子(或负离子) 与正离子会被电场拉开， 沿电场方向漂移。在外 加电场作用下收集电荷。  1.复合区 2.饱和区 3.正比区 4.有限正比区 5.G-M区  电子雪崩： α 、β射线直接引起气体电 离，γ射线则主要利用与阴极 相互作用产生的光电子、康普 顿电子等来引起气体电离。这 些电子-正离子对在计数管两极 间的电场作用下，又会引发新 的电离。 气体分子受到电子碰撞被激发，退激后会放出大量的光子， 光子、电子电子的这种链式使电子产生爆发性增殖，称为电 子雪崩。  死时间，恢复时间和分辨时间： 这时，若再有粒子进入就不 能引起放电，直到正离子鞘移出 强场区，场强恢复到足以维持放 电的强度为止。这段时间称为死 时间t 。 D 经过死时间后，雪崩区的场强恢复，但是在正离子完全 被收集之前是不能达到正常值的。这期间，粒子进入计数管 所产生的脉冲幅度要低于正常幅度，直到正离子全部被收集 后才完全恢复，这段时间称为恢复时间t 。从第一个脉冲开 R 始到第二个脉冲幅度恢复到V 的时间称为分辨时间。 d  核衰变统计规律与放射性测量的统计误差 ： 若多次记录探测器在相同时间间隔中所测到的 粒子数目，每次测到的计数并不完全相同，而是围 绕某个平均值上下涨落，这种现象就是放射性核衰 变的统计特性，它是微观粒子运动过程中的一种规 律性现象，是放射性原子核衰变的随机性引起的。  核衰变统计规律： 衰变遵从指数规律e-λt衰减，它与放射源的半衰 期T之间满足关系： λ ＝ln2/T。  λ称为衰变常数  二项式分布： 对于随机现象最基本的统计规律是二项式分布。 其中放射性核总数为N0 ，发生衰变的核数为N ， 二项式分布很不便于计算。由于对放射性原子核来 说，N 总是一个很大的数目，在这种情况下，二项 0 式分布可以简化为泊松分布。  泊松分布和正态分布（高斯分布）： 当N 1 ，且测量时间t远小于放射源的半衰期 0 T ，即λt 1时，二项式分布可简化为泊松分布。 当N1时，泊松分布实际应用很不方便，这时 可简化为正态分布。 实验结果及分析 • 相关参数： G-M计数器管压HV=600V 线性放大器放大倍数A=5*1.7=8.5 积分INT=0 （线路故障） 1、死时间、分辨时间的观察 采样电阻R=25kΩ ，X射线源U=15.0V ，I=0.10mA ，并且不 设置微分参数。