影响偏振相关损耗(PDL)测量的重要因素.docVIP

摘　　要: 设计出一种偏振无关的两极楔形光隔离器．由传统的楔形光隔离器、透镜和反射镜构成．结构采用反射型，在引入透镜和反射镜的基础上，第一级光隔离器的出射光经反射进入第二级，使得两极光隔离器共用一个法拉第旋转器，达到器件体积小，元件数目少，隔离度高的目的．同时利用矩阵光学理论对器件的隔离度和插入损耗进行了理论分析．分析结果表明，隔离度主要受器件消光比和旋转角误差的影响．消光比由10^-3到10^-4，会使隔离度增加20dB，旋转角误差为5^o时，对隔离度的影响达到25dB．插入损耗主要受透射比的影响． (共3页)影响偏振相关损耗(PDL)测量的重要因素?译者：赵歆跃?,校对：赵永鹏?博士、戴武涛,北京凌云光子技术有限公司 ????偏振相关损耗（PDL）的测量对测量系统中的扰动极其敏感，这些扰动包括光源的不稳定性，连接器的反射，甚至是测试光纤的布局。如果测试装置布置不合理，即使采用高精度的测量设备也可能会出现较大的测量误差或波动。该说明书描述了精确测量?PDL的通常注意事项，以及减少使用?General?Photonics公司PDL测试仪?(PDL-101)测量误差的方法。 ?PDL的定义为 ? ????其中Pmax和Pmin分别为当被测器件（DUT）输入光的偏振态在所有可能的偏振态间扫描时，通过DUT的最大和最小输出功率，如图1所示。?? ????在测量中可能会引入一些可能的误差和不确定性，这包括： 1.?由光源波动产生的误差 ????公式?(1)表明，如果光源的功率随时间变化，测量得到的功率最大和最小值也会随之变化，从而导致测量的不准确。因此，用于PDL测量的光源必须具有很高的稳定性。 ????即使光源本身非常稳定，测量系统中不同位置的微弱反射可能会反馈回激光器，干扰激光器的工作并导致输出的不稳定。因此，即使光源的输出端可能已经有了隔离器，我们仍强烈建议在PDL测量仪器的输入端加上隔离器，以减少反射。另外，为了减少连接器的反射，在光源与PDL测试仪之间的所有连接器都应该使用APC接头。 2.?由二次反射产生的误差 ????在测量装置中使用的某些器件可能存在微弱的反射，这些器件包括连接器和DUT。如图2所示，由一个器件产生的反射光可能会被另外的器件再次反射。二次反射光与主体输入光的传播方向一致，因此会与其发生干涉。总输出光功率为： ??其中Pin和Pdr分别是主光束和二次反射光束的功率，?ein和edr是主光束和二次反射光束的偏振态的单位复矢量，Φ是它们之间的相位差。 ????因为当光纤受到扰动时，主光束与二次反射光的相对相位和偏振态都会发生改变，它们之间的干涉会引起总输出功率的变化。以dB为单位，由公式（2）可以得到的相对变化的量级为： ????虽然二次反射光的很弱，但由于会与强光信号（输入光）发生干涉，它的影响不容忽视。例如，如果一束光先被一个自由端的PC接头反射（典型的反射率为4%），然后再被一对PC接头（回波损耗为40dB，反射率为0.01%）反射，探测到的功率波动可达0.017dB。这个功率波动会引起PDL测量波动0.017dB。当待测器件具有相似的PDL值时，该数值是不能够被忽略的。如果在前面那个例子中使用回波损耗为60dB的APC接头代替PC接头，PDL测量结果的波动将减少到0.0017dB，这个数值在大多数情况是可以被忽略的。 ???为了减小二次反射带来的影响，如果可能的话，应尽量使用反射较小的APC接头。或者也可以使用短相干长度的光源（相干长度小于主光束与二次反射光的光程差）。这样，公式(2)描述的干涉现象就不会发生，从而，公式(3)描述的干涉波动不会发生。 3.?由接头和光纤产生的误差 ????除了DUT之外，在PDL测量中使用的光纤和（或）接头也会有很小的PDL。例如，光纤本身会有0.01dB量级的PDL，而且当光纤弯曲的曲率半径很小时，这个值还会增加。连接的光纤跳线也有较小的PDL，量级为?0.01-0.02?dB。连接不佳的光纤跳线会有更高的PDL值，这可能是在连接过程中过度挤压光纤造成的。APC接头一般会有很高的PDL，尤其是在没有与另外的APC接头配对使用时。因此，在测试过程中，一条带接头的跳线很可能会对DUT的PDL测量产生0.02dB或更高的误差。 4.?PDL矢量和引起的波动 ????PDL可以被看成一个三维空间里的矢量，因为公式1中的Pmax和Pmin相当于输入光的两个正交偏振态，这可以描绘在邦加球上。因此，当测量装置中有两个或更多器件的PDL不为0时，总的PDL为所有器件PDL的矢量叠加。举例说明，图3所示的光路中，测量得到的总PDL是A、B、C、D四个光纤接头和DUT?的PDL的矢量之和（为了简化器件，假设光纤的PDL