西大催化剂表征固体催化剂表征技术-1(物理吸附)概要.ppt

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西大催化剂表征固体催化剂表征技术-1(物理吸附)概要

* * * * * * * * 图6-5是在氮气气氛下制备的CuHY和CuLaHY吸附剂以及HY、 LaHY分子筛于不含萘的模拟柴油中的穿透曲线。 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 此方程常称为 Washburn 方程。其中,汞的表面张力 γ=0.48 N/m,而汞与各类物质间的接触角 θ 在 135° ~150° 之间,因此通常取平均值 140°,故而上式可简化为: 显然汞压入的孔半径与所受外压力成反比,外压越大,汞能进入的孔半径越小。汞填充孔的顺序是先外部,后内部;先大孔,后中孔,再小孔。测量不同外压下进入孔中汞的量即可知相应孔大小的孔体积。 压汞法可测的孔径上、下限分别受最低填充压力(如常压),和最高填充压力限制。目前压汞仪使用压力最大约 200~400 MPa,因此可测孔半径范围为 3.75~750 nm。 * 目前商品化的压汞仪(图1.32)大多实现了计算机自动控制,内置程序软件用于自动数据采集、处理和生成报告,给出包括孔体积、孔径分布(积分、微分)、孔表面积、密度、孔隙率和颗粒粒径分布等数据。 * ② 实验方法 实验时将装有样品的样品池先抽空,然后将汞注满样品池,过剩的汞使之返回储汞器)。压力通过液压油传递给汞,升压方式有连续扫描(加压)和步进扫描(加压)两种方式。随着压力升高,汞被压入样品孔内,汞液面下降,用浸入汞的电极检测随着压力的变化汞体积的变化,记录进汞曲线。当压力升到预定的压力值后,仪器自动进行降压,此时可记录退汞曲线。 ③ 数据处理 将进汞曲线(V-p 或V-logp 曲线)的横坐标压力转化为相应的孔径,即得到积分进汞孔体积分布曲线(V-r 或V-logr 曲线,图1.33);对积分曲线取微分可得到孔体积的微分分布曲线(dV/dr-r 或dV/dr-logr 曲线)。 以圆柱形孔为统计模型,则汞接触到的表面的表面积 S 为: * 将进汞曲线(V-p 曲线)转为 p-V 图,积分 p-V 曲线下的面积就可求得 S。 ④ 影响压汞法测量的因素 首先,真实的孔道内孔形结构并不是均匀的,往往存在窄的瓶颈(喉部)。进汞时,只有达到了瓶颈入口半径对应的最大的压力后,汞才可能充满整个孔,这种情况下,计算出来的孔径分布将小于实际的孔径(瓶颈内的宽半径),或者说高估了瓶颈部窄径的孔体积。反过来,退汞时也会有类似的现象,瓶颈孔会产生汞的截留和滞后,导致退汞曲线总在进汞曲线上方。 其次,孔壁表面粗糙度或表面不均匀性也影响压汞曲线的形状,即使是单一孔形的多孔固体,仍然会出现压汞滞后回线。 * 三、颗粒度测定 1、颗粒和颗粒度 “颗粒”是指在毫米到纳米尺寸范围内具有特定形状的几何体。所谓“颗粒度”(particle size)就是颗粒的大小。 多相催化研究的“颗粒”以单晶、微粒、粉体以及分散在载体上的金属或化合物粒子等分散体系形态出现。其中,原子、分子、离子按晶体结构的规则形成的单晶粒子是“一次颗粒”(primary particles),它们的尺寸一般是纳米级的。若干晶粒聚集成的大小不一的微米级颗粒是“二次颗粒”(second particles or grain)。细小固体颗粒的集合是“粉体”(powder)。 * 2、 粒度分布 粒度分布(particles size distribution)就是用特定的仪器和方法反映出的颗粒体系中不同粒径颗粒占颗粒总数(总量)的比例,反映粒子大小的均匀程度。 * 学生选讲题目 1、BET比表面积测定在催化研究中的应用 2、电镜技术在催化研究中的应用 3、催化剂颗粒度分析及其在催化研究中的应用 4、荧光分析法在催化研究中的应用 5、原位红外技术在催化研究中的应用 6、质谱分析法在催化研究中的应用 7、XPS技术在催化研究中的应用 8、核磁共振技术在催化研究中的应用 9、程序升温还原技术在催化研究中的应用 10、程序升温脱附技术在催化研究中的应用 11、热分析联用技术在催化研究中的应用 12、拉曼光谱技术在催化研究中的应用 * 要 求 1、每个

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