第6章 扫描成像课件.docVIP

目 录 第6章 扫描成像 1 §6.1 扫描探测器工作原理 1 6.1.1 探测器主要性能参数 1 6.1.2 半导体导电机理 2 6.1.3 扫描探测器的工作原理 5 §6.2 电子扫描成像 6 6.2.1 电视摄像机基本构造 6 6.2.2 电子扫描成像过程 6 §6.3 光学机械扫描成像 8 6.3.1 光机扫描仪的结构组成 8 6.3.2 光机扫描仪的成像过程 11 §6.4 固体自扫描成像 13 6.4.1 CCD的基本结构与工作原理 13 6.4.2 CCD成像原理 14 6.4.3 CCD探测器类型 15 第6章 扫描成像 受胶片感光范围的限制，摄影胶片一般仅能记录波长在0.3～1.4m间的电磁波辐射，加之由于在航天遥感时采用摄影型相机的卫星所带的胶片有限，因此，摄影成像的应用范围受到了较大的限制。扫描成像是50年代以来产生、形成的一种新兴探测技术，它主要依靠探测元件和扫描镜对目标地物以瞬时视场为单位进行的逐点、逐行取样，以得到目标地物电磁辐射特性信息，利用光电效应和光热效应，将辐射能转换成电能(电流、电压)，或者是其它物理特性(体积，压力等)的变化，从而对物体进行探测。扫描成像探测波段可包括紫外、红外、可见光和微波波段，数据可采用视频传输方式来回收，应用领域广泛，是遥感的重要成像方式和发展方向。 §6.1 扫描探测器工作原理 6.1.1 探测器主要性能参数 与其它器件一样，探测器也有一套根据实际应用的需要而制定的特性参数。用这些参数可以评价一个探测器的优劣，图6-1为探测器功能示意图，输入的是辐射能，输出的是电压，下面介绍几个主要特性参数。 图6-1 探测器的功能图 图6-2 探测器光谱响应曲线 1 响应率 响应率是到达探测器上的单位辐射功率所产生的电压，即输出电压与输入辐射能量之比，表达式是： Ｒ＝Ｖｓ／φ （6-1） Ｖｓ：输出电压(伏)，φ：输入的辐射能量(瓦)。 2 响应波长范围 探测器的响应率与入射辐射的波长有一定关系，图６－２是探测器的光谱响应曲线。一般情况下，响应曲线有一最大响应峰，对应波长为λp，从λp向两边响应率都有所下降，我们把下降到峰值的一半所在的波长λc1、λc2叫做截止波长，探测器的使用范围波长，只能在λc1和λc2之间。 3 噪声电压（Ｖn）和等效噪声功率（NEP） 探测器在工作时本身所固有的一些毫无规律的，事前无法预测的随机电压起伏，叫噪声电压，简称噪声（Ｖn）。 如果投射到探测器上面的辐射通量产生的输出电压正好等于探测器本身的噪声电压，这个辐射量就叫做等效噪声功率（NEP），意思是说，它对探测器所产生的效果与噪声相等。 NEP＝Ｖn／Ｒ＝Ｖn／（Ｖs／φ） （6-2） 显然等效噪声功率NEP就是信噪比（Ｖs／Ｖn）等于１的入射辐射通量。要真正肯定辐射信号的存在，入射辐射功率应为NEP的2～6倍。NEP基本能表达一个探测器的探测能力，但它的大小依赖于探测器的面积A，也依赖于放大器带宽Δf，为了比较探测器的优劣，须用探测灵敏度D*来衡量。D*是与NEP成反比的量，由下式求出 （6-3） 式中：D*为探测灵敏度，A为元件的面积，NEP为等效噪声功率，Δf为频带宽度，当元件面积为1cm2、频带宽度为1Hz、照射光的入射功率为1W时，D*的值等于探测器输出信号与其噪声之比，即信噪比（S/N）。 另外，还常用光谱分辨率来表达传感器的光谱探测能力。它包括传感器总的探测波谱的宽度、波段数、各波段的波长范围和间隔。若传感器所探测的波段愈多，每个波段的波长范围愈小，波段间的间隔愈小，则它的光谱分辨率愈高。传感器的光谱分辨率高，它取得的图像就能很好地反映出地物的光谱特性，不同地物间差别在图像上就能很好地体现出来，传感器探测地物的能力就强。4 响应时间 当一定能量的辐射突然到达探测器的敏感面上时，探测器的输出电压要经过一定的时间才能上升到与这一辐射通量相对应的稳定值；当辐射突然除去后，输出电压也要经过一定的时间，才能下降到辐射之前原有值。一般而论上升下降所需时间是相等的，这一段时间就称为探测器的响应时间。 6.1.2 半导体导电机理 我们知道，物体可分为导体、半导体和绝缘体。导体传导电流，绝缘体隔离电流，半导体传导电流的能力介于它们两者之间。 1 物体导电机理 由物体微观结构知，物质由原子核和电子组成，电子成层分布在核周围，靠核较近的电子，受核吸引力较大，一般不