电性量测对半导体双量子点的影响-理论科学研究中心.ppt

電性量測對半導體雙量子點的影響 Zeno與反Zeno效應 Outline * 研究人員：唐英瓚(Phd Student) NCTU. EPhys 陳岳男博士(Dr.) NCTU. EPhys T.Brandes (Dr.) UMIST. Phys 指導教授：褚德三 老師(Dr.) NCTU. EPhys 2006.4.8N CKU 025m a. Zeno謬論： b. 原子光學的量測 c. 半導體電性的量測 1. 介紹 2. 理論模型與計算方法 b. Master Equation a. 模型(Hamiltonian) 3. 分析與討論 4. 結論 025m 由傳統時變薛丁格方程式可以推導，在t時刻，粒子被發現停 留在初態的機率是 對於 t 1/r時，泰勒級數展開為 但很多實驗顯示在衰減初期並未看到 線性衰減的行為，相對的，系統衰減多以時間的二次項出現； 也就是說能夠利用自然對數作為低維系統的計算方法必須修正。 解釋初始時間非線性的行為可由量子力學出發 而對演化的因子求期望就可直接得到二次項的關係 Introduction-1 025m 二次項的係數反應了擾動的貢獻 但是在時間 裡，密集的觀察演化,可得到; 當量測是連續不斷的 ，這時候，發現粒子 的機率將為 沒有衰減 ! 1.Zeno 謬論(paradox)： Introduction-1 025m 當時間不大時,扎眼的次數(頻率)等同對系統的刺激,間接改變系統原有的衰減率,也就是說看著一壺水在燒比沒看還來的晚煮沸. 量測行為 A.G Kofman, G.Kurizki Nature V405(2000) 2.原子光學的量測理論 Introduction-2 05m 連續不斷projection，系統期望值為 各別說明了環境對 系統的擾動與量測頻率對核心函數的影響。 Introduction-3 1m Relation between conventional and dynamical formalisms in the quantum Zeno effect CREST, Japan Science and Technology Agency, 4-1-8 Honcho, Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan and Department of Materials Engineering Science, Osaka University, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan (Received 5 January 2005; published 25 March 2005) The measurement-modified decay rate is calculated in two distinct formalisms , i.e., the conventional formalism and the dynamical formalism. The relation between the two formalisms is clarified, by recasting the decay rates obtained by the two formalisms into a unified form. It is shown that the dynamical formalism reproduces the conventional results only under the condition that the apparatus detects the decayed states with an identical response time. Kazuki Koshino Zeno-Like device 2.Model and Method-1 05m 2.Model與方法-3 2m 2.Model與方法-2 1m 考慮強的電子聲子交互作用,採用費曼準粒子方法將系統重新正則化,傳輸算符重新改寫為 2.Model與方法-4 05m Master Equation 的計算 2.Model與方法-5 05m Rule 基本上,在沒有聲子的考量下,單量子點被連續量測的解為 在t 的情況下,系統表現對數的衰減 相反的,在初始態中，求得:利用量測也說明了薛丁格方程對短時間預期結果(不存在正比t的關係) 所以世界上存在著Zeno效應,而且確實可以經由量測改變自發性 衰減率 2.Model與方法-6 1