克服大功率高亮度LED电学测量挑战.PDFVIP

克服大功率高亮度LED电学测量挑战 A G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C E © 2012 Keithley Instruments, Inc. 议程  高亮度LED V.S. 大功率LED  测试挑战 器件的自热效应 最大化投入产出比 系统噪声 结温测试 2 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 高亮度LED  高亮度LED通常定义为：工作功率在1W或1W以上的LED  通常照明应用需要将多个高亮度LED合并在一起使用 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 高功率LED模块  尺寸越来越小，所需光强越来越高，因此产生了高功率LED 模块  高功率LED模块通常包含一个较大的LED die或由多个LED die封装在一起 多个LED通常串联或并联在一起 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 测试挑战  器件的自热效应  最大化投入产出比  系统噪声  结温测试 5 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 测试挑战  器件的自热效应  最大化投入产出比  系统噪声  结温测试 6 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 器件的自热效应  当有电流流过时，LED的 PN结温度会升高  LED的正向导通电压随着 PN结温度的升高而下降  晶圆级测试中自热效应会 Temp ↑ V ↓ f 带来严重影响 7 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 脉冲测试  脉冲法测试LED可以最小化自热 效应的影响 在脉冲结束时进  脉宽小于等于1ms可以大大减小 行测量 器件的自热效应 需要一个可以连续输出脉冲波形 的电流源 测量需要精确定时  晶圆级测量时脉宽则要求更小 8 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 测试挑战  器件的自热效应  最大化投入产出比  系统噪声  结温测试 9 © 2012 Keithley Instruments, Inc. 最大化投入产出比 1. 提高测试速度 2. 花费更少的时间与资源开发测试系统 3. 更低的投资成本 10 © 2012 Keithley Instruments, Inc. LE