莫塞莱定律中的X光的特征谱-复旦大学物理教学试验中心.DOCVIP

在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取？ 作者: 秦闻 引言 验证莫塞莱定律实验中的（X光的特征谱）可以用吸收边来代替吗？实验中吸收边应如何选取？ 摘要 在检验莫塞莱定律实验中，关于的选取问题，根据《原子物理学（第三版）指的是元素的X射线特征谱。为了检验莫塞莱定律，由于各个元素的特征谱不能够直接测量，我们的实验中选取的是透射率突变处斜线的中间确定吸收边的位置，并以吸收边作为公式中的，用吸收边来代替特征谱，这样可行吗？吸收边应如何选取来减少误差？估算钼靶产生X光K系列特征谱所需要的最小电子加速电压，如何用实验来验证？ 关键词 特征谱 吸收边的选取 最小电子加速电压 正文 1.原理依据： “在钼靶上打出的X射线谱分为两部分，一是连续谱，在图中呈现一个山丘模样，这是韧致辐射产生的X射线谱；一是叠在连续谱上的两个尖峰，就是特征辐射产生的X射线谱，两峰所对应的波长位置与外加电压无关。各元素的特征X射线谱有相似的结构，各元素的特征X射线能量值（或波长值）各不相同，被用来作为元素的标识，所以又可以称为元素的标识谱。元素的标识谱是原子中内层电子的跃迁产生的。” [1] 图一 钼靶上打出的X射线发射谱 横坐标为X射线经NaCl晶体的入射角 纵坐标为收集极记录X射线强度 如果把各元素