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第1章 X射线的性质 1.1 X射线的发现 1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg和W.L.Bragg)首次 利用X射线测定了NaCl和KCl的晶体结构，提出了晶面“反射”X射 线的新假设，由此导出了简单实用的布拉格方程。布拉格方程的 导出开创了X射线在晶体结构分析中应用的新纪元，1915年布拉 格父子获得了诺贝尔物理学奖。 1.2 X射线的本质 一、X射线的性质： 不可见 使底片感光、荧光板发光、气体电离 具有极强的穿透能力 沿直线传播 杀死（伤）生物细胞 二、X射线的本质 X射线的波长范围约为：λ=0.001nm～10nm，其中用于晶 体结构分析的波长范围为0.05～0.25nm 。 X射线的本质是一种电磁波，有明显的波粒二象性。波动 性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播；微粒性主 要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量、能量 和动量。 由于X射线的波长较短，因此它的粒子性往往表现突出， 故X射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。每个光 量子的能量E和动量P分别为： 1.3 X射线的产生及X射线管 二、X射线管的构成及其工作原理 较小的焦点和较强的X射线强度，可提高X射 线的分辨本领和缩短曝光时间。 接受X射线时，使窗口与靶 面成一定角度，一般为3~6° 对于长方形焦点的X射线 管，窗口开设在与焦点的长 边和短边相对应的位置。 1.4 X射线谱 一、连续X射线谱 管压、管流和靶材序数对连续谱的影响 X射线的总强度： X射线的总强度I与管电流i、管电压U、阳极 靶的原子序数Z之间存在经验公式： 二、特征X射线谱 产生机理：当外来高速粒子的能量足够大时，可将原 子壳层(如K层)中的某个电子击到原子外或电子排布未满 的外部壳层(如M层)上，在原来位置留下空位，导致原子 系统能量升高而处于激发态。由于激发态的不稳定性， 原子外部壳层上的电子将向该空位跃迁并释放出X射线。 而原子各壳层的能量是固定的，因此所释放X射线的波长 为一定值。 Kα是由Kα1和Kα2两条 谱线组成，与原子能级 的精细结构有关。 莫塞莱定律：特征X射线谱的频率只取决阳极靶材料的原子序数，是物质的固有属性。 式中：K—常数(与靶材物质主量子数有关) σ—屏蔽常数(与电子所在壳层位置有关) Z—靶材的原子序数 X射线管最佳工作电压 连续谱只会增加衍射花样的背底，不利于 衍射花样分析。 U=(3～5)UK时，I特/I连最大。 小结： 1.5 X射线与物质的相互作用 一、X射线的散射 散射的定义：X射线的光子与物质中的电子 相遇时改变了原来的传播方向，造成的在原 传播方向上强度减弱的现象。 相干散射 定义：在X射线的电场作用下，物质原子中 受核束缚较紧的电子产生受迫振动，向四周 辐射与入射X射线波长相同的散射X射线。各 散射线之间符合振动方向相同、频率相同、 位相差恒定的干涉条件，可发生干涉现象， 故称为相干散射。 特点：相干散射不损失X射线的能量，只改 变其传播方向。 非相干散射 定义：当X射线的光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时，电子获得部分动能成为反冲 电子，所产生散射X射线的能量小于入射X射线 且方向改变；由于散射X射线不符合干涉条件， 因此没有干涉现象产生，故把该散射称为非相干 散射，又称康普顿–吴有训效应。 特点：非相干散射线方向杂乱，强度大幅削弱， 在衍射花样中，只增加连续背底，对衍射不利。 波长变化量： 式中： —散射角(散射线 与入射线的夹角) 二、X射线的吸收 定义：X射线与物质作用时，其能量被转化为其 他形式的能量，X射线的强度随之衰减，这种现 象称为X射线的吸收。 光电效应 光电效应：入射X射线的光量子与物质原子中 电子相互碰撞时产生的激发和辐射过程。 二次特征X射线：由入射X射线激发所辐射出 的特征X射线称为二次特征X射线或荧光X射 线，所产生的特征辐射称为二次特征辐射或 荧光辐射。 注意： 是产生二次特征X射线所需入射X射线的临界波长， 是与物质一一对应的常数；而 是连续X射线谱的最小波 长，是随管电压的增加而减小的变量。 二次特征X射线是由一次特征X射线作用物质后产生 的，而连续X射线是由电子束作用物质后产生的。 二次特征X射线的波长与物质一一对应，具有特定值， 可用于试样的成分分析，强度越高越好。但在应用X射线 进行晶体衍射分析时，应尽量避免产生二次特征X射线， 否则会增加衍射花样的背底，增加分析难度。 光电子不同于反冲电子。光电子是X射线作用物质后， 激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子，也即光电子， 具有特征能量；而反冲电子是束缚较松的外层或自由电子 吸收了部分X射线的能量