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透射电子显微镜 在高聚物结构研究中的应用 Transmission Electron Microscope TEM TEM工作原理 入射电子束 特征X射线 背散射电子 阴极荧光 俄歇电子 二次电子 吸收电子 束感生电效应 透射电子束 高能电子束与固体样品的相互作用 电子光学系统 真空系统 控制照明系统 样品输送系统 控制成像系统 JEM200CX透射电镜全貌 JEM200CX透射电镜全貌 热阴极 控制极 光源系统 阳极 聚光镜 聚光镜光栅 电 子 试样 衍射束 物镜 光 成像系统 物镜光栅 学 中间镜光栅 中间镜 系 投影镜光栅 统 投影镜 荧光屏 照相机 记录系统 TEM的应用 Transmission Electron Microscope (TEM) 观察高分子晶体的形貌和晶体结构; 对高分子晶体的晶格直接成像; 测定高分子微孔薄膜的孔径大小与分布; 测定聚合物共混体系的微相分离; 表征嵌段共聚物的纳米结构; ………… 入射电子束 特征X射线 背散射电子 阴极荧光 俄歇电子 二次电子 吸收电子 束感生电效应 透射电子束

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