异或门逻辑电路功能的测试.docVIP

实验二 与门、或门、异或门逻辑电路功能的测试 一、实验目的 1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。 2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。 二、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验台 2、万用表 1只 3、元器件： 74LS00 74LS04 74LS55 74LS86 各一块 导线若干 三、实验内容 1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能 将74LS04正确接入电路，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表2-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为 表2-1 74LS04逻辑功能测试表 1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y 4A 4Y 5A 5Y 6A 6Y 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能 将74LS00正确接入电路，注意识别1脚位置，按表2-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为 表2-2 74LS00 逻辑功能测试表 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能 将74LS55正确接入电路，注意识别1脚位置，按表2-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据） 表2-3 74LS55部分逻辑功能测试表 A B C D E F G H Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 1 1 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 0 0 1 1 1 1 ┇ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ 0 0 0 0 1 1 1 1 0 ┇ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ 0 0 1 0 0 0 0 0 1 ┇ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ 1 0 0 0 1 1 1 1 0 ┇ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ 1 1 0 1 0 0 0 1 1 ┇ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ ┋ 1 1 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 本器件的逻辑表达式应为：Y=,与实侧值相比较，功能正确。 4、测试74LS86（四异或门）逻辑功能 将74LS86正确接入电路，注意识别1脚位置，按表2-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y=A⊕B 表2-4 74LS86逻辑功能测试表 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 四、实验结果分析（回答问题） 1、若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有256种输入取值组合。 2、用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法。