数字电路实验指导书 - 2010年度精品课程申报.docVIP

实验一：　TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 　　一、实验目的 　　1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 　　2、掌握TTL器件的使用规则 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 　　二、实验原理 本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。 (b) （a） (c) 图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列 1、与非门的逻辑功能 　　与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。） 其逻辑表达式为 Y＝ 2、TTL与非门的主要参数 　 (1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输